Richtungsabhängige Spindelsteigungsfehler-Kompensation; Funktionsbeschreibung - Siemens SINUMERIK 828D Funktionshandbuch

Programmcode
$MC_AXCONF_MACHAX_USED[4]=5
$MC_AXCONF_MACHAX_USED[5]=6
$MC_AXCONF_MACHAX_USED[6]=0
M30
5.5.5 Richtungsabhängige Spindelsteigungsfehler-Kompensation
5.5.5.1

Funktionsbeschreibung

Bei zu großen richtungsabhängigen Differenzen in den Kompensationspunkten, bei einer nicht
konstanten Lose bzw. bei sehr hohen Anforderungen an die Genauigkeit kann eine
richtungsabhängige Kompensation der Spindelsteigungsfehler oder Messsystemfehler (bei
direkter Positionserfassung) erforderlich sein.
Richtungsabhängige Spindelsteigungsfehler-Kompensation
Bei der "Richtungsabhängige Spindelsteigungsfehler-Kompensation" ("Richtungsabhängige
SSFK" oder auch "Bidirektionale SSFK") werden je Achse zwei Kompensationstabellen
verwendet. Eine Kompensationstabelle für die positive und eine für die negative
Verfahrrichtung. In die Kompensationstabellen wird die Abweichung im jeweiligen
Kompensationspunkt als Differenz zwischen idealem Soll- und gemessenem Istwert
eingetragen. Kompensationswerte von Zwischenwerten berechnet die Steuerung automatisch
per Linearinterpolation.
Voraussetzungen / Wirksamkeit
Die "Richtungsabhängigen SSFK" wird in der SINUMERIK-Steuerung als Sonderfall der
"Durchhangkompensation" realisiert. Es gelten daher die Voraussetzungen und Bedingungen
der "Durchhangkompensation" (siehe "Durchhang- und Winkligkeitsfehlerkompensation
(Seite 293)").
Die Wirksamkeit der Kompensation kann durch Referenzmessung z. B. mit dem
Laserinterferometer oder im einfachsten Fall über die Service-Anzeige der jeweiligen Achse
überprüft werden.
Hinweis
Wird die "Richtungsabhängige SSFK" parallel zur Durchhangkompensation und Korrektur der
Winkligkeit verwendet, müssen die Randbedingungen dieser Funktionen zusammen
betrachtet werden, z. B. die Zuordnung der Tabellen <t> zur jeweiligen Funktion.
Erweiterungsfunktionen
Funktionshandbuch, 08/2018, 6FC5397-1BP40-6AA2
K3: Kompensationen
5.5 Interpolatorische Kompensation
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