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SICK IVC-2D Bedienungsanleitung Seite 220

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Kapitel 5
220
Leser
Muster gefunden, die teilweise außerhalb des Bildes liegen. Wird dagegen ein ROI-
Rechteck durchsucht, werden nur Muster zurückgegeben, deren Kanten sich vollständig
innerhalb der ROI befinden.
Einstellungen Mustervergleich
Zusätzlich zu den Einstellungen im Datenblock existieren noch einige Laufzeitparameter,
die die Performance des Werkzeugs beeinflussen. So ist ein Toleranzbereich von ±20 %
einstellbar, in dem die Größe eines Musters variieren darf. Weiterhin können gedrehte
Muster erlaubt werden. Die Rotations-Toleranz dafür wird in Grad angegeben – ein Wert
von ±180 bedeutet demnach eine volle Drehung. Mit Verzicht auf Toleranzangaben bei der
Größe und der Rotation lässt sich die Ausführungszeit verkürzen.
Ein Limit der zu findenden Muster kann die Performance des Werkzeugs ebenfalls verbes-
sern, da geringwertige Übereinstimmungen frühzeitig verworfen werden. Gleiches trifft auch
auf die Minimale Übereinstimmung zu.
Der Überlappungsabstand sollte nur von erfahrenen Anwendern gesetzt werden. Er beein-
flusst die Performance des Werkzeugs in schwierigen Situationen, wie zum Beispiel bei
überfüllten Bildern. Wird der Überlappungsabstand verringert, werden Übereinstimmungen,
die zu dicht beieinander liegen (dichter als der Überlappungsabstand), als Duplikate gewer-
tet. Für den weiteren Prozessverlauf wird dann das Muster ausgewählt, das die höhere
Übereinstimmung aufweist. Der Überlappungsabstand beruht auf dem Schwerpunkt des
Referenzmusters (das heißt dem Mittelpunkt der Lern-ROI). Dieser Punkt wird in den
interaktiven Einstellungen für Muster hinzufügen als blauer Kreis mit einem Kreuz gekenn-
zeichnet.
Das untere Beispiel zeigt, wie der Überlappungsabstand das Ergebnis des Suchalgorith-
mus beeinflusst. Das obere Bild zeigt das Referenzmuster und seinen Schwerpunkt,
markiert mit einem blauen Kreuz. Die beiden unteren Bilder zeigen die Ergebnisse mit
verschiedenen Überlappungsabständen.
Ergebnis bei einem Überlappungsabstand
von 100 Pixeln
Ergebnisausgabe
Für den Fall, dass mehr als ein Muster gefunden wird, können Sie die Reihenfolge festle-
gen, in der das Werkzeug die Muster zurückgibt. Die Muster können nach beliebigen
Attributen (X/Y-Koordinaten, Größe, Rotation, Übereinstimmung) sowie auf- oder abstei-
©
SICK AG • Advanced Industrial Sensors • www.sick.com • Alle Rechte vorbehalten
Referenzmuster mit Schwerpunkt
Ergebnis bei einem Überlappungsabstand
von 200 Pixeln
Referenzhandbuch
IVC-2D

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