Übereinstimmung; Mustersuche - SICK IVC-2D Bedienungsanleitung

Referenzhandbuch
IVC-2D
Übereinstimmung
4.6 Übereinstimmung

Mustersuche

Das Werkzeug Mustersuche findet ein Referenzmuster in einem Bild. Dazu wird das Refe-
renzmuster zunächst anhand eines Referenzbildes erstellt und anschließend in den Live-
Bildern (gesucht wird durch vergleichen) erfasst.
Der Vergleich von ganzen Mustern oder Musterteilen ist kompliziert. Es bedarf für dieses
Werkzeug vor allem einer guten Reihe von Eingangsparametern, um ein Ergebnis in einer
angemessenen Zeit zu liefern. Das Werkzeug besitzt interaktive Einstellungen, die Sie bei
der Erstellung von Referenzmustern und der Abstimmung der Eingabeparameter unterstüt-
zen, damit der Mustersuche-Algorithmus schnell und effizient arbeitet. Für weitere Informa-
tionen über interaktive Einstellungen siehe Mustersuche – interaktive Einstellung auf Seite
219.
Das Kapitel Muster suchen (Tipps und Tricks) auf Seite 224 beschreibt die Arbeitsweise
des Algorithmus bei der Mustersuche. Das Kapitel Beispiele für Arbeitsabläufe auf Seite
226 zeigt einige Beispiele auf, wie Sie die Gruppe von Werkzeugen zusammen am effek-
tivsten einsetzen.
Das Werkzeug übermittelt Informationen über das erste Muster (gemäß der gewählten
Sortierreihenfolge). Wenn ein Tabellenindex angegeben ist, werden die Informationen über
alle gefundenen Muster in der Tabelle gespeichert, beginnend ab dem angegebenen
Index. Für jedes gefundene Muster werden fünf Einträge erstellt: X-Koordinate des Refe-
renzpunkts, Y-Koordinate des Referenzpunkts, Rotation, Größe und Übereinstimmung.
Die Koordinaten des Referenzpunkts werden in Pixeln innerhalb des Zielbilds angegeben.
Die Rotation und die Größe hingegen werden relativ zum Referenzbild bestimmt.
Mit dem Werkzeug Musterlernen im Betrieb können Referenzmuster auch während des
Betriebs erstellt werden.
Mit den Zusatzwerkzeugen Musteranalyse auf Seite 119, Bild-Transformation auf Seite
120 und ROI-Transformation auf Seite 122 können Sie die Liste der gefundenen Formen
weiter verarbeiten.
Eingabeparameter
01 = Quellspeicher
02 = Datenblock
03 = Gesamtes Bild
durchsuchen
04 = ROI X-Koordinate
05 = ROI Y-Koordinate
06 = ROI Breite
07 = ROI Höhe
08 = Erlaube skalierte
Objekte (• 20 %)
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Bildspeicher, der nach übereinstimmenden Formen durch-
sucht wird.
Nummer der Position im Speicher, an der das Referenz-
muster gespeichert ist.
Legt fest, ob das komplette Bild für die Suche nach dem
Muster verwendet wird oder der Suchbereich durch die
ROI-Parameter begrenzt wird.
X-Koordinate der oberen linken Ecke des Bereichs, der
nach übereinstimmenden Mustern durchsucht wird.
Y-Koordinate der oberen linken Ecke des Bereichs, der
nach übereinstimmenden Formen durchsucht wird.
Breite des Suchbereichs.
Höhe des Suchbereichs.
Suche nach Mustern, deren Größe sich vom Referenzmus-
ter unterscheidet. Abweichungen in der Skalierung von bis
zu ±20 % sind möglich.
Kapitel 4
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