Inhaltsverzeichnis
Werbung
Kapitel 4
130
Übereinstimmung
Hervorgehobene Fehler bei der HMI-Anzeige oder zu Demozwecken.
Eine erweiterte Verwendung des Differenzbildes ist die Merkmalverbesserung durch das
Ausblenden des Hintergrunds, wie z. B. die Erhöhung der Unempfindlichkeit einer Barcode-
Anwendung.
Referenzierung zur Lage der Mustersuche
Verwenden Sie bei der Prüfung mehrerer kleiner Muster auf einem großen Objekt (z. B.
Tasten auf einem Tastenfeld) zunächst die Mustersuche, und verweisen Sie auf sie mit
dem Parameter „Schritt Mustersuche". Auf diese Weise können kleine Fehler gemäß der
Daumenregel „Großflächig suchen, kleinflächig prüfen" gefunden werden.
In diesem Modus:
•
Das Suchrechteck „Muster prüfen" wird mit der Lage der Mustersuche automa-
tisch verschoben und seine Größe je nach Maßstab angepasst.
•
Die Position und der Winkel des gefundenen Musters im Zusammenhang mit der
Lage der Mustersuche werden als „Delta X", „Delta Y" und „Delta-Winkel" ausge-
geben. Die Ergebnisse sind beispielsweise nützlich, um die korrekte Position eines
Musters auf einem Objekt anstatt in einem Bild sicherzustellen.
Technischer Vergleich mit der Mustersuche
Die Musterwerkzeuge basieren auf einem normalisierten Kreuzkorrelationsverfahren
(NCC), das bei variablen Kontrasten und unter Umgebungslichtbedingungen äußerst
wirksam ist. Das Verfahren eignet sich für das Suchen von beliebigen Mustertypen und
ermöglicht das Prüfen kleiner Fehler. Es zeigt die besten Ergebnisse bei kleinen Drehungs-
toleranzen, obwohl die volle Drehungssuche unter Beeinträchtigung der Verarbeitungszeit
unterstützt wird.
Die Mustersuchwerkzeuge basieren auf einem geometrischen Mustererkennungsverfah-
ren, das sich am besten für das Suchen großer Muster (Objekte) in einer beliebigen Dre-
hung eignet. Dieses Verfahren ist im Vergleich zur normalisierten Kreuzkorrelation toleran-
ter gegenüber Verdeckung, Bildrauschen und Geräusche.
In der folgenden Tabelle werden zur Auswahlunterstützung mehrere wichtige Aspekte der
verschiedenen Algorithmen beschrieben:
Bei der Suche verwendete
Informationen
Toleranz bei weichen Kanten
Schlechte Kontrasttoleranz
Unempfindlichkeit gegenüber
Umgebungslicht
Abdeckungstoleranz
Bildrauschen- und Geräuschto-
leranz
Verzerrungsempfindlichkeit
©
SICK AG • Advanced Industrial Sensors • www.sick.com • Alle Rechte vorbehalten
Muster
Intensität in allen Pixeln
Sehr gut
Sehr gut
Sehr gut
Begrenzt
Gut
Muster suchen: Mittel
Referenzhandbuch
IVC-2D
Mustersuche
Kanten
Begrenzt
Begrenzt
Gut
Sehr gut
Sehr gut
Mittel
Werbung
Inhaltsverzeichnis
Fehlerbehebung
