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SICK IVC-2D Bedienungsanleitung Seite 133

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Referenzhandbuch
IVC-2D
Übereinstimmung
Koordinate
04 = Winkel
04 = Delta X
05 = Delta Y
06 = Delta-Winkel
(Grad)
07 = Übereinstimmung
SUCHSTATUS
0
Muster gefunden
8980
Muster gefunden, aber teilweise außerhalb der Bildspeichergrenzen
8981
Kein passendes Muster gefunden
9015
Es wurde ein Muster gefunden, aber die Übereinstimmung liegt unter der Schwel-
le
FEHLERCODES
7300
Problem bei der Speicherzuweisung
8983
Komprimieren des Datenblocks nicht erfolgreich
8984
Dekomprimieren des Datenblocks nicht erfolgreich
8985
Schritt Mustersuche hat kein verwendbares Ergebnis erbracht. Bitte führen Sie
den Schritt Mustersuche erneut durch.
8986
Der verwendete Musterindex ist zu hoch. Der Schritt Mustersuche enthält zu
wenige Muster.
8994
Der referenzierte Schritt weist den falschen Typ auf. Bitte verwenden Sie eine
Mustersuche als Referenz, oder verwenden Sie -1, wenn keine Referenz angege-
ben wird.
8995
Allgemeiner Visualisierungsfehler. Bitte ändern Sie den Visualisierungstyp.
8997
Keine ROI-Daten im referenzierten Schritt vorhanden. Bitte führen Sie den Schritt
erneut durch, oder ändern Sie die Referenz.
8998
Gefüllte ROI kann nicht als Eingabe verwendet werden. Bitte verwenden Sie einen
ROI-Perimeter.
8999
Allgemeiner Fehler im Datenblock der Musterprüfung. Bitte wiederholen Sie den
©
SICK AG • Advanced Industrial Sensors • www.sick.com • Alle Rechte vorbehalten
Musters.
Der Winkel des gefundenen Musters im Verhältnis zum
Referenzbild, das als 0 definiert wird.
Ohne Verwendung der Mustersuche:
Die Verschiebung des Musters auf der X-Achse im Ver-
hältnis zum Referenzbild.
Mit Verwendung der Mustersuche:
Die Verschiebung des Musters auf der X-Achse im Ver-
hältnis zum Referenzbild mit Anpassung für die Lage der
Mustersuche.
Ohne Verwendung der Mustersuche:
Die Verschiebung des Musters auf der Y-Achse im Ver-
hältnis zum Referenzbild.
Mit Verwendung der Mustersuche:
Die Verschiebung des Musters auf der Y-Achse im Ver-
hältnis zum Referenzbild mit Anpassung für die Lage der
Mustersuche.
Ohne Verwendung der Mustersuche:
Der Winkel des Musters im Verhältnis zum Referenzbild.
Mit Verwendung der Mustersuche:
Der Winkel des Musters im Verhältnis zum Referenzbild mit
Anpassung für die Lage der Mustersuche.
Die Ähnlichkeit zwischen dem gefundenen Muster und
dem Referenzmuster in %.
Kapitel 4
133

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