SICK IVC-2D Bedienungsanleitung Seite 129

Referenzhandbuch
IVC-2D
Übereinstimmung
sind. Sie werden nach der Verarbeitung des Differenzbildes gefunden, beispielsweise
durch die Verwendung von Detailextraktion, Blobsuche oder durch das Pixelzählen.
Referenzetikett.
Es gibt vier Optionen für das Differenzbild:
1. Diff.
Der absolute Wert der Intensitätsdifferenz in jedem Pixel. Dieser Option sollte ver-
wendet werden, wenn die durchschnittliche Intensität des Musters Teil des Prü-
fungszwecks ist.
2. Normalisierte Diff.
Wie der Diff.-Modus, wobei Änderungen an der durchschnittlichen Intensität und
dem Kontrast ausgeglichen werden. Diese Option sollte verwendet werden, wenn
gleichförmige Kontrastvariationen nicht berücksichtigt werden sollten. (das Entfer-
nen von lokalen Beleuchtungsänderungen hat keine Wirkung.)
3. Diff. mit Kantenausblendung
Wie der Diff.-Modus, allerdings weniger empfindlich gegenüber Kantenartefakten
vom Muster.
4. Normalisierte Diff. mit Kantenausblendung
Wie der Normalisierte Diff.-Modus, allerdings weniger empfindlich gegenüber Kan-
tenartefakten vom Muster.
Kleine Fehler in einem Muster, wie z. B. auf einer HMI oder in einem Demo, können auf
folgende Weise sichtbar hervorgehoben werden:
1. Aktivieren Sie den Parameter „Muster-ROI erstellen"
2. Generieren Sie das Differenzbild mit der Option „Normalisierte Diff. mit Kanten-
ausblendung".
3. Suchen Sie die Fehler im Differenzbild mithilfe der Blobsuche. Optional können
Sie vor der Verarbeitung die Werkzeuge „Erodieren" und/oder „Grauwertbereich
spreizen" verwenden.
4. Verwenden Sie für jeden Blob/Fehler die Blobanalyse, um eine Blob-ROI zu erstel-
len.
5. Zeichnen Sie im Innenbereich der FOR-Schleife die Blob-ROI mit dem Werkzeug
„ROI zeichnen"
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Etikett mit Fehler.
Kapitel 4
Differenzbild.
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