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Referenzhandbuch
IVC-2D
Übereinstimmung
Maßstabstoleranz
Verarbeitungszeit
Genauigkeit* (mittlerer Fehler)
Mehrere Muster/Objekte
Großes Suchrechteck
Volle Drehungssuche
Differenzbild
* Prozess für Genauigkeitstest: Einfache (Pac-Man) Form mit einem Radius von 50 Pixeln als Referenzmuster.
Suchrechteck mit einer Größe von 400x400 Pixel. Lagemessung an 100 Bildern, bei denen das Referenzmuster
synthetisch entfernt und in bekannte Lagen gedreht wurde. Vorverarbeitung mit 3x3 Dilatation. Unempfindlichke-
itsparameter auf „unempfindlich" eingestellt (Muster). Genauigkeitsparameter hoch eingestellt (Mustersuche).
Keine Bildverzerrung bzw. kein Bildrauschen hinzugefügt.
Unempfindlichkeit und Geschwindigkeit optimieren
Die Parametereinstellungen haben einen großen Einfluss auf die Verarbeitungszeit des
Werkzeugs.
Das Konzept von Bildpyramiden (Downsampling) wird zur Beschleunigung der ersten,
groben Suche nach einem Muster verwendet. Die Anzahl der Pyramidenebenen (max. 8)
wird automatisch vom Algorithmus basierend auf einer Kombination aus Unempfindlichke-
its- und Geschwindigkeitsparameter und der Größe der Muster-ROI gewählt. Die verfeiner-
te, endgültige Suche wird normalerweise am Originalbild ausgeführt.
Daumenregel:
•
Bei kleinen Mustern (im Verhältnis zum Suchrechteck) wird das Werkzeug im un-
empfindlichen Modus verlangsamt. Versuchen Sie, die Größe des Suchrechtecks
zu reduzieren, und verwenden Sie den normalen Modus.
•
Große Muster (im Verhältnis zum Suchrechteck) mit gefüllten Bereichen eignen
sich besonders gut für den schnellen Suchmodus.
•
Bei Mustern, die aus feinen Details oder Linien, also keinen ausgefüllten Berei-
chen bestehen, muss der unempfindliche Modus verwendet werden, da ansons-
ten die charakteristischen Details beim Downsampling verloren gehen können.
•
Um die Geschwindigkeit zu optimieren, verwenden Sie ausschließlich das Dre-
hungstoleranzintervall, das für die Anwendung erforderlich ist. Wenn ein Muster mit
verschiedenen festen Winkeln ausgeführt wird (z. B. um 0 • 5 und 180 • 5 ), ist
es schneller und unempfindlicher, das Werkzeug zweimal zu verwenden (einmal
pro Intervall) als • 180 zu suchen.
Die Unempfindlichkeits- und Geschwindigkeitsparameter haben einige Auswirkungen auf
die Musterlage, wobei die unempfindlichen und normalen Modi doppelt so genau wie der
schnelle Modus sind.
Eingabeparameter
01 = Quellspeicher
02 = Datenblock
03 = Schritt Mustersu-
©
SICK AG • Advanced Industrial Sensors • www.sick.com • Alle Rechte vorbehalten
Differenzbild: Hoch
• 20 % mit Auswirkung
auf die Übereinstimmung
• 20 % ohne Auswirkung
auf die Übereinstimmung
bei Referenzierung zur
Mustersuche
Einige Variationen
Teilpixel (~0,05 Pixel)
Teilgrad (~0,1 Grad)
Nein
Langsam
Langsam
Ja
Der Bildspeicher, in dem nach dem Muster gesucht wird.
Die Datenblocknummer im Arbeitsspeicher, in dem das
Referenzmuster gespeichert werden soll.
Referenz zu einem Schritt Mustersuche, um die automati-
Kapitel 4
• 20 %
Konstant
Teilpixel (~0,1 Pixel)
Teilgrad (~0,1 Grad)
Ja
Schnell
Schnell
Nein
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Fehlerbehebung
