10 Technologiefunktionen
10.1 Touch Probe
Mit Hilfe der Touch Probe Funktion können Positionen des Antriebs in Abhängigkeit
bestimmter Eingangssignale erfasst werden. Mögliche Eingangssignale sind:
• Digitaler Eingang ISD05
• Digitaler Eingang ISD06
• Nullimpuls
Über den Parameter 2285 „Touch probe function selector" kann zwischen verschiede-
nen Implementierungen umgeschaltet werden.
• CiA402 Implementierung (noch nicht implementiert)
• Herstellerspezifische Implementierung
10.1.1 Beschreibung der herstellerspezifischen Implementie-
rung
Um die Funktion nutzen zu können, muss zunächst der Parameter P 2285 Touch probe
function selector auf 2 = „BECK2" gestellt werden (Die Einstellung „BECK1" wird zur
Zeit noch nicht unterstützt). Sollen Signale über die beiden digitalen Eingänge ISD05 und
ISD06 erfasst werden, dann müssen diese mit Hilfe der Parameter P 106 + P 107
MPRO_Input_FS_ISD0x als Messtaster (Einstellung 15) konfiguriert werden. Die Parame-
ter befinden sich im Sachgebiet „Konfiguration der Ein-/Ausgänge Digitale Eingänge".
Abschließend müssen noch folgende Objekte gemappt werden:
RxPDO
0x60B8 Touch probe function
TxPDO
0x60B9 Touch probe status
0x60BA Touch probe pos1 pos value
Mit Hilfe des Objekts 0x60B8 „Touch probe function" wird festgelegt, ob auf die fallen-
de, die steigende oder auch auf beide Flanken des jeweiligen Signals getriggert werden
soll. Durch Setzen des zugehörigen Bits (0 - 4) wird die entsprechende Funktion aktiviert
moog
(Flankengesteuert). Das Auslesen der gespeicherten Position wird durch die Bits 8 – 12
gesteuert. Nach dem Eintreffen des konfigurierten Signals muss eine neue Messung
durch Rücksetzen und erneutes Setzen des entsprechenden Bits gestartet werden.
Bit
Wert (bin)
Wert (hex)
00000000
Enable extern latch 1 (positive rise) über Baustein Touch
0
xx01
00000001
Probe
00000000
Enable extern latch 1 (negative rise) über Baustein Touch
1
xx02
00000010
Probe
00000000
2
xx04
Enable extern latch 2 (positive rise)
00000100
00000000
3
xx08
Enable extern latch 2 (negative rise)
00001000
00000000
Enable intern latch C (positive rise) über Baustein
4
xx10
00010000
MC_Home
5-7
-
-
reserviert
00000001
Read external latch 1 (positive rise) über Baustein Touch
01xx
00000000
Probe
00000010
Read external latch 1 (negative rise) über Baustein Touch
02xx
00000000
Probe
00000011
8-12
03xx
Read external latch 2 (positive rise)
00000000
00000100
04xx
Read external latch 2 (negative rise)
00000000
00000101
Read intern latch C (positive rise) über Baustein MC_
05xx
00000000
Home
13-15
-
-
reserviert
Tabelle 10.1 Objekt 0x60B8: Touch probe function
Das Objekt 0x60B9 liefert den Status der Touch probe Funktion zurück. Wurde ein durch
das Objekt 0x60B8 aktiviertes Signal registriert, dann wird dies durch Setzen des ent-
sprechenden Bits (0 - 4) im Statuswort angezeigt.
MSD Servo Drive Benutzerhandbuch CANopen/EtherCAT
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Kapitel 10
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Beschreibung
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