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ZEISS
5.12.10
Auflicht-TIC einstellen
(1)
Anwendung
Das Auflicht-TIC-Verfahren (Mikrointerferometrie; TIC = Totaler Interferenzkontrast im zirkular
polarisierten Licht) kann angewendet werden für die Darstellung und Vermessung von Objektstrukturen,
die in unterschiedlichen Azimuten vorliegen.
Bild 159
TIC-Schieber 6x20
•
Zum Auswählen der zu vermessenden Struktur am Stellrad des TIC-Schiebers (Bild 159/2) so lange
drehen, bis das Interferenzstreifensystem senkrecht zur Aufspaltungsrichtung des Objektes verläuft.
Mit der Stellschraube (Bild 159/1) des TIC-Schiebers können die Interferenzstreifen verschoben
werden.
Die Bestimmung der Stufenhöhe d erfolgt anschließend nach folgender Formel:
∆
λ
n
b
=
=
d
2
a 2
mit:
d = Stufenhöhe in nm
n = Brechzahl der Umgebung, meistens Luft (n = 1)
∆ = Gangunterschied
a = Abstand der Interferenzstreifen
b = Versatz der Interferenzstreifen an der Stufe
λ = Wellenlänge der Beleuchtung in nm
166
BEDIENUNG
Beleuchtungs- und Kontrastverfahren
(2)
−
−
−
(3)
•
•
•
431004-7244-000
Geräteausrüstung
Axio Observer materials mit angeschlossener
Leuchte
microLED
HAL 100.
Objektive EC Epiplan-Neofluar oder EC Epiplan
mit der Zusatzbezeichnung "DIC" oder "Pol".
TIC-Schieber 6x20 mit zugehörigem Reflektor-
modul C-DIC/TIC P&C.
Auflicht-TIC einstellen
Präparat (z. B. ein stufenförmiges Objekt)
auflegen
und
Abschnitt 5.12.5 beschrieben für Auflicht-
Hellfeld einstellen.
Reflektormodul C-DIC/TIC P&C am Reflektor-
revolver
(Bild 154/7)
einschwenken.
TIC-Schieber 6x20
(siehe
Aufnahmefach unterhalb des Objektivrevolvers
einschieben. Im Sehfeld erscheinen farbige
Interferenzstreifen.
Axio Observer
oder
justierter
Leuchte
Mikroskop
wie
in
den
Strahlengang
Bild 159)
in
12/2016
in
das
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