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Axio Observer
(4)
Auflicht-C-DIC
•
Mikroskop für Auflicht-Hellfeld einstellen.
•
Reflektormodul C-DIC/TIC P&C am Reflektorrevolver (Bild 154/7) in den Strahlengang einschwenken.
•
C-DIC-Schieber 6x20 (Bild 158/1) in das Aufnahmefach für C-DIC-Schieber einschieben.
•
Ggf. nachfokussieren und das Stellrad am C-DIC-Schieber 6x20 (Bild 158/1) so drehen, dass die
interessierende Struktur in maximalem Kontrast sichtbar ist.
•
Durch Verstellung des Stellrades am C-DIC-Schieber können zusätzliche Kontrasteffekte hervorgerufen
werden.
(5)
Ergänzende Bemerkung
Beim Differentiellen Interferenzkontrast bzw. Differentiellen Interferenzkontrast im zirkular polarisierten
Licht entsteht der Kontrast durch ein Pseudo-(Relief) im Präparat und hängt deshalb bei linearen
Strukturen davon ab, ob diese Strukturen in "Licht-Schatten"-Richtung orientiert sind (sehr geringfügiger
Kontrast) oder senkrecht dazu (maximaler Kontrast).
Bei Verwendung des C-DIC-Schiebers 6x20 können die Strukturen durch Drehen am Stellrad des C-DIC-
Schiebers senkrecht zur "Licht-Schatten"-Richtung ausgerichtet und damit der maximale Kontrast
eingestellt werden.
12/2016
BEDIENUNG
Beleuchtungs- und Kontrastverfahren
431004-7244-000
ZEISS
165
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Kapitel
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