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Axio Observer
5.12.8
Auflicht-Dunkelfeld einstellen
(1)
Anwendung
Das Auflicht-Dunkelfeld-Verfahren wird angewendet, wenn nicht rein spiegelnde Flächen mit
unterschiedlichem Reflexionsvermögen untersucht werden (ideale Hellfeldobjekte), sondern auch Kratzer,
Risse, Poren, kurz: Abweichungen in Planflächen vorkommen. Alle diese lichtstreuenden Details leuchten
im Dunkelfeld hell auf, während die spiegelnden Planflächen dunkel bleiben.
(2)
Geräteausrüstung
Axio Observer materials mit angeschlossener Leuchte microLED oder justierter Leuchte HAL 100.
−
Objektive EC Epiplan-Neofluar oder EC Epiplan mit der Zusatzbezeichnung "HD".
−
Reflektormodul Dunkelfeld ACR P&C.
−
(3)
Auflicht-Dunkelfeld einstellen
•
Mikroskop wie in Abschnitt 5.12.5 beschrieben für Auflicht-Hellfeld einstellen. Die Leuchtfeldblende
ganz öffnen.
Reflektormodul Dunkelfeld ACR P&C am Reflektorrevolver (Bild 154/7) in den Strahlengang
•
einschwenken.
•
Objektivposition mit Dunkelfeldobjektiv (HD) am Objektivrevolver (Bild 154/5) einschwenken.
•
Leuchtfeldblende (Bild 154/3) und Aperturblende (Bild 154/2) vollständig öffnen und ggf. Neutralfilter
ausschalten bzw. entfernen.
Ggf. nachfokussieren und Präparat im Dunkelfeld betrachten.
•
12/2016
BEDIENUNG
Beleuchtungs- und Kontrastverfahren
431004-7244-000
ZEISS
163
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Kapitel
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