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Axio Lab.A1
4.2.2
Auflicht-Dunkelfeld einstellen
(1) Anwendung
Das Auflicht-Dunkelfeld-Verfahren wird angewendet, wenn nicht rein spiegelnde Flächen mit
unterschiedlichem Reflexionsvermögen untersucht werden (ideale Auflicht-Hellfeldobjekte), sondern
Kratzer, Risse, Poren, kurz: Abweichungen in Planflächen vorkommen. Alle diese lichtstreuenden Details
leuchten im Dunkelfeld hell auf, während die spiegelnden Planflächen dunkel bleiben.
(2) Geräteausrüstung
Betrachtungen im Auflicht-Dunkelfeld können nur an den Mikroskopen Axio Lab.A1 für Auflicht
durchgeführt werden.
− Objektive Epiplan-Neofluar, EC Epiplan-Neofluar, Epiplan mit der Zusatzbezeichnung "HD"
− Reflektormodul Dunkelfeld ACR P&C für Auflicht
Das Stativ für Auflicht ist mit einer eingebauten Dunkelfeldblende versehen.
(3) Auflicht-Dunkelfeld einstellen
• Mikroskop wie in Abschnitt 4.2 beschrieben für Auflicht-Hellfeld einstellen. Die abgebildete
Leuchtfeldblende sollte sich knapp außerhalb des Sehfeldrandes befinden, um Reflexe zu vermeiden.
• Falls eingesetzt, Kompensatorschieber 6x20 entfernen.
• Objektivposition mit Dunkelfeldobjektiv (HD) am Objektivrevolver einschwenken.
• Ggf. Reflektormodul Dunkelfeld am Reflektorrevolver einschwenken.
• Aperturblende vollständig öffnen und ggf. Neutralfilter ausschalten bzw. entfernen.
• Präparat auflegen und ggf. nachfokussieren.
M60-2-0058 d 04/2010
BEDIENUNG
Beleuchtungs- und Kontrastverfahren im Auflicht
430037-7044-000
Carl Zeiss
103
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