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ZEISS
Durchlicht-DIC mit Schieber Analysator ±30° (de SÉNARMONT)
(2)
Dieses Verfahren kann nur mit Kondensor 0,35 H/DIC angewendet werden.
Bei Verwendung des Schiebers Analysator ±30° muss zunächst der DIC-Schieber in Mittelstellung
gebracht werden.
Polarisator (Bild 152/1) einschwenken und Analysator ±30° (Bild 152/5) in 0°-Stellung (Dunkelstellung)
•
bringen (Polarisator und Analysator kreuzen sich).
•
Am Kondensorrevolver das DIC-Prisma ausschwenken (z. B. Hellfeld- oder Phasenkontrastposition
verwenden).
•
Ein Okular herausnehmen und durch Hilfsmikroskop ersetzen (oder Bertrandoptik am Fototubus
einschalten).
•
Bei Beobachtung des Sehfeldes mit Hilfsmikroskop (bzw. Bertrandoptik) wird ein diagonaler schwarzer
Streifen des DIC-Schiebers (von links oben nach rechts unten) sichtbar.
•
Durch Verstellen der Rändelschraube am DIC-Schieber den diagonalen, schwarzen Streifen in die Mitte
des Sehfeldes justieren.
•
Hilfsmikroskop entfernen und Okular wieder einsetzen (bzw. Bertrandoptik ausschalten).
•
DIC-Stellung am Kondensor einschwenken.
•
Präparat auflegen.
•
Mit dem Stellrad den Analysator aus der 0°-Stellung herausdrehen und somit den optimalen Kontrast
einstellen.
Das DIC-Verfahren arbeitet mit polarisiertem Licht und wird folglich gestört, wenn sich doppel-
brechende Elemente, z. B. Folien, zwischen Polarisator und Analysator befinden, die gele-
gentlich im Zusammenhang mit histologischen Schnitten verwendet werden. Das gleiche gilt für
Plexiglas-Kulturkammern, wenn der Kammerboden aus Kunststoff besteht. In diesen Fällen
empfiehlt es sich, solche mit Glas-Bodenplatten zu verwenden, um optische Leistungseinbußen
zu vermeiden.
152
BEDIENUNG
Beleuchtungs- und Kontrastverfahren
431004-7244-000
Axio Observer
12/2016
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