Sicherheitseingänge (I) Xtio; Testausgänge (X) Xtio; Sicherheitsausgänge (Q) Xtio - SICK Flexi Soft Betriebsanleitung

8012477/1IG6/2023-02-24 | SICK
Irrtümer und Änderungen vorbehalten
Tabelle 129: Sicherheitseingänge (I) XTIO
Anzahl Eingänge
Eingangsspannung High
Eingangsspannung Low
Eingangsstrom High
Eingangsstrom Low
Rückstrom an Eingang bei Masseabriss
Hardwareversion < V1.10 (FX3-
XTIO Step 1.xx)
3)
Hardwareversion ≥ V1.10 (FX3-
XTIO Step 2.xx) 3)
Schaltstrom (bei Anschluss mechani‐
scher Kontakte)
Eingangspulsfilter (Pulse innerhalb dieser Grenzen haben keine Auswirkungen)
Pulsbreite
Pulsperiode
Eingangskapazität
Diskrepanzzeit
1) Bei Temperaturen unter 0 °C kann der Eingangspegel höher sein (max. 14,5 V).
2) Keine anderen Sicherheitseingänge parallel anschließen, wenn der Rückstrom zu einem High-Zustand
am anderen Eingang führen könnte.
3) Die Hardwareversion der Flexi-Soft-Module ist in der Hardwarekonfiguration der Konfigurationssoftware
im Zustand Online zu finden oder im Bericht, wenn das System zuvor online war.
Tabelle 130: Testausgänge (X) XTIO
Anzahl Ausgänge
Ausgangsart
Ausgangsspannung High
Ausgangswiderstand Low
Ausgangsstrom
Testpulsrate (Testperiode)
Testpulsbreite (Testlücke)
Lastkapazität
Leitungswiderstand
Tabelle 131: Sicherheitsausgänge (Q) XTIO
Anzahl Ausgänge
TECHNISCHE DATEN
XTIO
8
13 ... 30 V DC
1)
–5 ... +5 V DC
2,4 ... 3,8 mA
–2,5 ... +2,1 mA
2)
Max. 20 mA
1,5 kΩ wirksamer Widerstand von Spannungsversorgung
zum Eingang
Max. 2 mA
14,4 mA bei 5 V
3 mA bei 24 V
Max. 0,9 ms
Min. 4 ms
Max. 10 nF + 10 %
4 ms ... 30 s, konfigurierbar
XTIO
2 (mit 2 Testpulsgeneratoren)
PNP-Halbleiter, kurzschlussfest, kurzschlussüberwacht
15 ... 30 V DC (max. 1,8 V Abfall zur Anschlussklemme
A1 des Hauptmoduls)
≤ 33 Ω + 10 %, Strom begrenzt bei ca. 10 mA
Max. 120 mA an jedem Testausgang (X1 oder X2).
Damit sind maximal 8 testbare Sensorkaskaden pro
Modul mit jeweils maximal 30 mA möglich.
Der Gesamtstrom des Flexi-Soft-Systems für alle Aus‐
gänge (X1 ... X8 und XY1 ... XY2) darf 1,28 A nicht über‐
schreiten. Dies entspricht z. B. einem Maximum von 32
testbaren Sensorkaskaden mit je 30 mA plus 64 taktilen
Sensoren an Eingängen von Erweiterungsmodulen mit je
5 mA.
40 ... 1000 ms, konfigurierbar
1 ... 100 ms, konfigurierbar
1 µF für Testlücke ≥ 4 ms
0,5 µF für Testlücke 1 ms
< 100 Ω
XTIO
4
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