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Philips XL Serie Bedienungsanleitung Seite 81

Rasterelektronenmikroskope
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2. MIKROSKOPFUNKTlONEN
~ODOO
~ODOD
~OOOD
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1
2
4
8
16
32
64
Abb.2.12:
Das Matrixfeld für die Eingabe der Gewichtsfaktoren. Die Faktoren kön-
nen eingetippt oder aus der Liste ausgewählt werden.
Das Dialogfeld ennöglicht die Eingabe der Matrix. Werte können eingetippt (Minuszeichen
ist zulässig) oder aus der Liste mit der Maus ausgewählt werden. Die Gesamtsumme aller
Elemente wird fortlaufend berechnet und unter der Matrix angezeigt. Für eine ordnungs-
gemäße Funktion muß die Summe aller Elemente entweder 0 oder 8 sein. Damit wird
ge-
währleistet, daß das berechnete Bild Graustufen im
gültigen
Bereich des Mikroskops auf-
weist
Bei einer 5x5-Matrix müssen alle Elemente
einen
Wert erhalten. Wenn in bestimmte Felder
nichts eingesetzt wird, nimmt das System an, daß das Element den Wen 0 hat Eine redu-
zierte Matrix, z.B. eine 2x2-, 3x3- oder 4x4-Matrlx kann an beliebiger Stelle im Matrixfeld
angeordnet werden, vorausgesetzt, daß die reduzierte Matrix ein symmetrischer Zahlen-
block ist. So kann eine 3x3-Matrix entweder in die obere linke Ecke oder so eingesetzt wer-
den, daß ihr Zentralelement auf das zentrale Element der 5x5-Matrix flilil.
Matrizen müssen, um gültig
zu sein,
den folgenden drei Bedingungen genügen:
1.
Alle Zahlwerte müssen 1,2,4,8, 16, 32 oder 64 lauten (mit oder ohne Minus-
zeichen) (Fehlenneldung:
"Wrang
matrix value")
2.
Die Matrix darf keine
zwei
nebeneinanderliegenden Matrixfelder in Horizontal-
richwng mit einem Nullwert aufweisen
(Fehlenneldung: "Wrang
delta
x")
3.
Die Gesamtsumme muß 0 oder
8 sein (nur
in diesem Fall ändert
sich
die
Gesamt-
helligkeit des Bildes nicht).
Nach Definition der Matrix
wird
die Operation durch Anklicken
von
Aktion (Action)
ge-
startet
und das Bild im Hauptspeicher des Mikroskops
verändert.
Das Ergebnis kann
als
nonnales Mikroskopbild
behandelt,
d.h. dem Fotomonitor zugesendet, auf Platte abgespei-
chert, zur Farbbehandlung benutzt
oder
in
einen
anderen Speicherbereich des Mikroskops
kopiert werden.
Phil ips XL·Rasterelektronenmikroskop

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