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Kippbewegung - Philips XL Serie Bedienungsanleitung

Rasterelektronenmikroskope
Inhaltsverzeichnis

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5.1
.
Der Präparatlisch des XL20
Der Tisch kann um
60
0
gekippt werden
.
Die Kippachse
schneidet
immer die
e lektronen-
optische Aehse der Säule in derselben Höhe (freier Arbeitsabstand 12 oder 34 mm). Wenn
das Präparat
in
dieser Höhe positioniert
wird
,
kann
es
in der euzentrischen Ebene gekippt
werden. Dies bedeutet, daß während des Kippvorgangs
nahezu
keine Bildverschiebung ein-
tritt. Der Kippmechanismus kann mit
dem
Blockierhebel LOCK auf
der
Tür der Präparat-
kammer verriegelt werden, um bei
höheren Vergrößerungen
eine bessere Stabilität zu
er·
reichen.
Die Höhe des Präparats kann mit drei verschiedenen Mechanismen eingestellt werden:
Mit dem Einstellmechanismus im Türscharnier
der
Kammer, mit dem der Tisch
auf die
untere
(freier Arbeitsabstand
=
34 mm) oder die obere (12 mm) eu
zent-
rische
Position eingestellt werden kann.
Mit der internen Höheneinstellung, mit der
man
den PräparaLhalter längs der Ro·
Lationsachse nach oben
oder
unten
schrauben
kann;
Mit der
externen
Höheneinstellung mittels des Z·Knopfes auf der Tür der Präpa·
raLkammer.
Die X"
y.
und Rotationsbewegungen können mit Mikrometerschrauben auf der Tür der
PräparaLkammer eingestellt werden. Wenn der Tisch
motorisiert
ist, werden diese Bedie·
nungselemente über Software bedient
(Funktionen
Gel,
Track
,
siehe Abschniu 2.5, Bedie·
nungsgruppe
Posilionierung
(Posilioning).
5.1.2.
Kippbewegung
Das Präparat kann mit dem Hebel
(2)
wie folgt
gekippt
werden:
Prüfen,
ob
der Verriegelungshebel LOCK
(I
)
auf UNLOCK
steht
(nach
links ge·
dreht).
Die Kippung auf den
gewüllschten
Wert einstellen, indem man den Kipphebel
(2)
nach oben oder
unten bewegt.
Der Kippwinkel ist
auf
der
Skala (3)
auf der PräparaLkammertür
abzulesen.
Falls
gewünscht,
kann der Kippmechanismus
(bei
höheren Vergrößerungen mit
dem Verriegelungshebel LOCK
(I)
blockiert werden.
Software·
Version
4.x
133

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