SICK microScan3 Core I/O Betriebsanleitung Seite 165

8016345/1AM7/2021-08-24 | SICK
Irrtümer und Änderungen vorbehalten
Leckstrom
3)
Lastinduktivität
Lastkapazität
Schaltfolge (ohne Umschal‐
tung und ohne simultane
Überwachung)
Zulässiger Leitungswider‐
stand zwischen Last und
Gerät
Testpulsbreite
Testpulsintervall
Scanzykluszeit 30 ms 240 ms ... 264 ms (typ. 240 ms)
Scanzykluszeit 40 ms 320 ms ... 344 ms (typ. 320 ms)
Scanzykluszeit 50 ms 400 ms
Dauer des AUS-Zustands
Diskrepanzzeit (Zeitversatz
zwischen dem Schalten der
OSSDs eines OSSD-Paars)
Universalausgang, Universal-I/O (als Ausgang konfiguriert)
Ausgangsspannung HIGH
Ausgangsspannung LOW
Ausgangsstrom HIGH
Leckstrom
Einschaltverzögerungszeit
Ausschaltverzögerungszeit
Statischer Steuereingang, Universaleingang, Universal-I/O (als Eingang konfiguriert)
Eingangsspannung HIGH
Eingangsspannung LOW
Eingangsstrom HIGH
Eingangsstrom LOW
Eingangswiderstand bei
HIGH
Eingangskapazität
Eingangsfrequenz (max.
Schaltfolge) (bei Verwen‐
dung als Steuereingang)
Abtastzeit
Antwortzeit an EDM nach
dem Einschalten der OSSDs
(bei Verwendung als EDM-
Eingang)
Betätigungsdauer des
Befehlsgeräts für Rückset‐
zen (bei Verwendung als
Rücksetzen-Eingang)
microScan3 Core I/O
≤ 250 µA
≤ 2,2 H
≤ 2,2 µF in Reihe mit 50 Ω
Abhängig von der Lastinduktivität
≤ 2,5 Ω
≤ 300 µs (typ. 230 µs)
≥ 80 ms
≤ 1 ms (typ. 25 µs)
(U – 3,7 V) ... U
V V
0 V ... 2 V
≤ 200 mA
≤ 0,5 mA
40 ms
40 ms
24 V (13 V ... 30 V)
0 V (–30 V ... 5 V)
3 mA ... 6 mA
0 mA ... 2 mA
Typ. 5 kΩ
10 nF
≤ 20 Hz
4 ms
300 ms
60 ms ... 30 s
B E T R I E B S A N L E I T U N G | microScan3 Core I/O
TECHNISCHE DATEN
13
165