Zeitlicher Verlauf Der Ossd-Tests - SICK microScan3 Core I/O Betriebsanleitung

13
TECHNISCHE DATEN
13.5

Zeitlicher Verlauf der OSSD-Tests

168 B E T R I E B S A N L E I T U N G | microScan3 Core I/O
• Scanzykluszeit
• Eingestellter Beeinflussungsschutz
• Eingestellte Mehrfachauswertung
Sie können die Ansprechzeit mit folgender Formel berechnen:
t = (t + t ) × n + t
R S I O
Dabei gilt:
•
t = Ansprechzeit
R
• t = Scanzykluszeit
S
Einstellung „30 ms": t
°
Einstellung „40 ms": t
°
Einstellung „50 ms": t
°
• t = Zeit für Beeinflussungsschutz
I
Modus 1 (Voreinstellung): t
°
Modus 2: t = 1 ms
°
I
Modus 3: t = 2 ms
°
I
Modus 4: t = 3 ms
°
I
• n = Eingestellte Mehrfachauswertung
Voreingestellt n = 2.
Die Mehrfachauswertung kann für den Sicherheits-Laserscanner oder für jedes
einzelne Feld geändert werden (2 ≤ n ≤ 16).
•
t = Zeit für Verarbeitung und Ausgang
O
Abhängig vom verwendeten Ausgang:
OSSD-Paar 1: t
°
O
Tabelle 35: Ansprechzeit eines einzelnen Sicherheits-Laserscanners
Scanzykluszeit (t ) Beeinflussungsschutz
S
(t )
I
30 ms Modus 1
Modus 2
Modus 3
Modus 4
40 ms Modus 1
Modus 2
Modus 3
Modus 4
50 ms Modus 1
Der Sicherheits-Laserscanner testet die OSSDs in regelmäßigen Zeitabständen. Dazu
schaltet der Sicherheits-Laserscanner jeweils jedes aktive OSSD kurzzeitig (für max.
300 μs) in den AUS-Zustand und prüft, ob dieser Kanal in dieser Zeit spannungsfrei ist.
Stellen Sie sicher, dass die Steuerung der Maschine nicht auf diese Testpulse reagiert
und die Maschine nicht abschaltet.
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
= 0 ms
I
= 10 ms
Ausgang (t
0 ms OSSD-Paar 1
1 ms OSSD-Paar 1
2 ms OSSD-Paar 1
3 ms OSSD-Paar 1
0 ms OSSD-Paar 1
1 ms OSSD-Paar 1
2 ms OSSD-Paar 1
3 ms OSSD-Paar 1
0 ms OSSD-Paar 1
) t = Ansprechzeit bei
O R
Mehrfachauswertung
n
n × 30 ms + 10 ms
n × 31 ms + 10 ms
n × 32 ms + 10 ms
n × 33 ms + 10 ms
n × 40 ms + 10 ms
n × 41 ms + 10 ms
n × 42 ms + 10 ms
n × 43 ms + 10 ms
n × 50 ms + 10 ms
8016345/1AM7/2021-08-24 | SICK
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