Messung Der Laufzeitverzögerung - Tektronix TDS2000C Benutzerhandbuch

Anwendungsbeispiele
Messung der Laufzeitverzögerung
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Sie vermuten, dass das Speicher-Timing in einem Mikroprozessor-Schaltkreis
nicht optimal ist. Richten Sie das Oszilloskop so ein, dass sich die
Laufzeitverzögerung zwischen dem chip-select-Signal und den ausgegebenen
Daten des Speicherbausteins messen lässt.
Zum Einrichten der Messung der Laufzeitverzögerung gehen Sie wie folgt vor:
1. Drücken Sie die Taste AutoSet, um eine stabile Anzeige zu erhalten.
2. Stellen Sie die horizontalen und vertikalen Bedienelemente ein, um die
Anzeige zu optimieren.
3. Drücken Sie die Taste Cursor, um das Menü „Cursor" anzuzeigen.
4. Drücken Sie Typ ► Zeit.
5. Drücken Sie Quelle ► CH1.
6. Drücken Sie die Optionstaste Cursor 1.
7. Drehen Sie den Mehrfunktions-Drehknopf, um einen Cursor auf die aktive
Flanke des chip-select-Signals zu setzen.
Typ
Uhrzeit
Quelle
CH1
Δt 20,00 ns
1/Δt 50,00 MHz
ΔV 0,28 V
Cursor 1
50,0 ns
-0,20 V
Cursor 2
70,0 ns
0,08 V
TDS2000C und TDS1000C-EDU Benutzerhandbuch