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Anwendungsbeispiele
Induktion kann zu einem durchgeschlagenen Kontakt und einem
fehlerhaften vorzeitigen Öffnen des Relais führen.
Sie können die vertikalen, horizontalen und Triggeroptionen
verwenden, um die Einstellungen zu optimieren, bevor das nächste
Einzelschussereignis erfasst wird. Wenn die nächste Erfassung mit
den neuen Einstellungen aufgezeichnet wird (drücken Sie erneut die
Taste EINZELFOLGE), ist zu erkennen, dass beim Öffnen der Kontakt
mehrmals geprellt wird.
Messung der Laufzeitverzögerung
Sie vermuten, dass das Speicher-Timing in einem
Mikroprozessor-Schaltkreis nicht optimal ist. Richten Sie das
Oszilloskop so ein, dass sich die Laufzeitverzögerung zwischen dem
chip-select-Signal und den ausgegebenen Daten des Speicherbausteins
messen lässt.
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Benutzerhandbuch Oszilloskop der Serie TDS1000B/2000B
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