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Messung Der Laufzeitverzögerung - Tektronix TPS2000 Benutzerhandbuch

Digitalspeicher-oszilloskop
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Anwendungsbeispiele
Messung der Laufzeitverzögerung
Sie vermuten, dass das Speicher-Timing in einem
Mikroprozessor-Schaltkreis nicht optimal ist. Richten Sie das
Oszilloskop so ein, dass sich die Laufzeitverzögerung zwischen dem
chip-select-Signal und den ausgegebenen Daten des Speicherbausteins
messen lässt.
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Benutzerhandbuch des Digitaloszilloskops der Serie TPS2000
Typ
Zeit
Quelle
CH1
Δt 20,00 ns
1/Δt 50,00 MHz
ΔV 0,28 V
Cursor 1
50,0 ns
-0,20 V
Cursor 2
70,0 ns
0,08 V

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