Zeitlicher Verlauf Der Ossd-Tests; Reichweite - SICK microScan3 Core I/O AIDA Betriebsanleitung

13.5

Zeitlicher Verlauf der OSSD-Tests

13.6

Reichweite

Um unter rauen elektromagnetischen Umgebungsbedingungen eine höhere EMV-Robustheit zu erreichen, wird empfohlen, die Eingangs‐
8)
filterzeit der angeschlossenen Steuerung (Ein-Aus-Filter) auf einen Wert ≥ 5 ms einzustellen. Beachten Sie, dass sich dadurch die
Ansprechzeit des Gesamtsystems um mindestens diese eingestellte Filterzeit erhöht.
8017783/1L9Q/2023-08-14 | SICK
Irrtümer und Änderungen vorbehalten
Der Sicherheitslaserscanner testet die OSSDs in regelmäßigen Zeitabständen. Dazu
schaltet der Sicherheitslaserscanner jeweils jedes aktive OSSD kurzzeitig (für max.
300 μs) in den AUS-Zustand und prüft, ob dieser Kanal in dieser Zeit spannungsfrei ist.
Stellen Sie sicher, dass die Steuerung der Maschine nicht auf diese Testpulse reagiert
und die Maschine nicht abschaltet.
t t t
S S S
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Abbildung 72: Abschalttests
t Scanzykluszeit
S
• Einstellung „30 ms": t
• Einstellung „40 ms": t
• Einstellung „50 ms": t
≤ 300 µs
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Abbildung 73: Dauer und zeitlicher Versatz der Abschaltests in einem OSSD-Paar
t Scanzykluszeit
S
• Einstellung „30 ms": t
• Einstellung „40 ms": t
• Einstellung „50 ms": t
Schutzfeldreichweite
Die effektive Schutzfeldreichweite ist abhängig von der Variante, von der eingestellten
Scanzykluszeit und von der eingestellten Objektauflösung.
8)
t t t
S S S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
4 × t
S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
B E T R I E B S A N L E I T U N G | microScan3 Core I/O AIDA
TECHNISCHE DATEN
t t t
S S S
≤ 300 µs
13
t
t
t
t
141