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Testfunktionen und Kalibrierung
Diodenarray-Detektor (DAD)
Diodenarray-Detektor (DAD)
In diesem Kapitel werden die integrierten Testfunktionen des Detektors
beschrieben.
Selbsttest
Beim DAD-Selbsttest (siehe
einzelner Tests durchgeführt (diese werden auf den nächsten Seiten beschrie-
ben) und die Ergebnisse werden automatisch ausgewertet. Folgende Tests wer-
den durchgeführt:
• Filtertest
• Spalttest
• Dunkelstromtest
• Intensitätstest
• Überprüfung der Wellenlängenkalibrierung
• Holmiumtest
• Test auf spektrale Flachheit
• ASTM-Rauschtest (optional)
Der Selbsttest kann einmal oder wiederholt durchgeführt werden. Wenn wie-
derholte Durchführung eingestellt ist, werden die Tests solange in Serie durch-
geführt, bis der Anwender sie anhält. Die wiederholte Durchführung des Tests
ist nützlich für die Fehlersuche bei intermittierend auftretenden Problemen.
Beim ASTM-Rauschtest wird das Rauschen an der Detektorbasislinie (254 nm)
bestimmt, während Wasser mit einer Flussrate von 1 mL/min gepumpt wird.
Der Test dauert etwa 20 Minuten und kann je nach Bedarf innerhalb der
Selbsttestsequenz oder separat durchgeführt werden.
Der Selbsttest wird mithilfe des Dialogfelds Selbsttest durchgeführt. Wählen
Sie entweder Einzelner Test oder Wiederholte Tests. Klicken Sie das Kontroll-
kästchen ASTM-Rauschtest an, um den Rauschtest in den Selbsttest aufzuneh-
men.
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Abbildung 53
auf Seite 179) werden eine Reihe
1220 Infinity LC
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