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Testfunktionen
Test der Wellenlängengenauigkeit
Abbildung 66 Einstellungen für EM/EX-Scan
2 Laden Sie die Methode WLEXTEST. Der FLD wechselt in den Multi-Emissi-
onsmodus und führt einen Scan im Bereich des erwarteten Maximums von
397 nm ±20 nm durch.
Agilent 1260 FLD Benutzerhandbuch
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