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4.4.1 Einen Dual-Sektor-Scan für Schweißnahtprüfung erstellen
Sobald Sie die erste Gruppe korrekt eingerichtet und kalibriert haben, können Sie
mit „Klon" eine zweite Gruppe, zum Beispiel für einen gleichzeitigen,
doppelseitigen Scan (Dual-Scan), erstellen. Sie müssen eine sogenannte „Y-Sonde"
(zwei Sonden teilen sich einen Stecker) verwenden. In diesem Beispiel wird die
„Y-Version" der Sonde für die Kalibrierung des Einzel-Sektor-Scans verwendet,
wie in Abschnitt 4.4 beschrieben, Bestellnummer P/N 115-500-013.
Hierbei werden die zwei 16-Prüfköpfe über das Y-Kabel mit einer Steckdose
verbunden. Auf der Buchse verwendet Sonde Nr. 1 (links) die Stifte 1 bis 16, Sonde
Nr. 2 (rechts) nutzt die Stifte 33 bis 48. PIN-Verschiebung für Sonde Nr. 2 ist 32.
Einrichten der 115-500-013 Sonde auf dem 36° Keil (69.438) mit:
•
Kalibrierung auf K2
•
TCG-Aufzeichnung mit 4 Punkten (10, 25, 40, 55 mm)
•
Sektor von 40° - 70°, wurde in Datei „2Sector_left" gespeichert
Abbildung 64 zeigt das Einrichten für Sonde Nr. 1 auf dem DAC-Block, um die
richtige Kalibrierung und Sondenposition zu überprüfen.
USM Vision+ Benutzerhandbuch
Abbildung 64: Einrichtung von Sonde Nr. 1
Kapitel 4. Kalibrierung
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