Wieland samos PRO Handbuch Seite 144

berechnen:
zusätzliche Ansprechzeit = Testzeit + 12 ms - 0,5 * Testperiode
(Es wird nur ein positives Ergebnis gewertet, negative Werte sind gleich Null)
Für Applikationen mit Trittmatte/Schaltmatte ist die Testperiode der angeschlossenen Testgenera-
toren für die Ansprechzeit heranzuziehen. Die nachfolgende Tabelle gibt die Reaktionszeiten, bei
entsprechend eingestellten Testperioden, wieder.
Geänderte Reaktionszeiten!
Ab Bauzustand D–03.01 der Module SP-COP und B–08 der Module SP-SDIO gelten die längeren Re-
aktionszeiten aus der nachfolgenden Tabelle.
Insbesondere bei bereits bestehenden Projekten mit Sensorelementen für Sicherheitsmatten und
WARNUNG
Bumpern ist diese Verlängerung der Reaktionszeiten unbedingt zu beachten (z. B. im Falle eines
Austausches eines Moduls SP-COP).
Tab. 62: Testperioden und Ansprechzeiten
Testperiode beider Testausgänge [ms]
Testausgang 1
40
40
200
200
400
400
600
600
800
800
1000
1
Entnehmen Sie die Werte dem Bericht in samos® PLAN 6 .
Beispiel
Das folgende Beispiel zeigt die die Ermittlung der Ansprechzeit einer Sicherheitsfunktion (Sensor –
Logik – Aktor).
Tab. 63: Ansprechzeit einer Sicherheitsfunktion
Teilfunktion
Ansprechzeit des Sensors
Testzeit bei testbaren Sensoren, z. B. BWS Typ2
Bei testbaren Sensoren erhöht sich die Ansprech-
zeit um die aktive Testlücke + 12 ms.
So ergibt sich z. B. bei einer Testlücke von 4ms ei-
ne zusätzliche Ansprechzeit von 4 ms + 12 ms =
16 ms
Wieland Electric GmbH | BA000965 | 05/2024 [11680] |
1
Resultierende zusätzliche Ansprechzeit [ms]
Testausgang 2 SP-SDIO (bis B‑07)
SP-COP (bis D‑01.xx)
40 20
200–1000 40
200 100
400–1000 200
400 300
600 400
800–1000 400
600 500
800 600
1000
800 700
1000 800
1000 900
Technische Daten
SP-SDIO (ab B‑08)
SP-COP (ab D‑03.xx)
40
80
200
400
400
600
800
600
800
1000
800
1000
1000
Zeit Bemerkung
+ 18,0 ms Herstellerangaben
+ 16,0 ms Testgeneratoren T1
bis T4
oder X1 bis X8
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