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PRODUKTBESCHREIBUNG
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B E T R I E B S A N L E I T U N G | multiScan136
Der Elevationswinkel (Vertikalwinkel) eines Strahls wird als phi bezeichnet und wird
relativ zur x-y-Ebene gemessen:
•
Elevationswinkel < 0 liegt oberhalb der x-y Ebene, d. h. für positive z-Werte
•
Elevationswinkel > 0 unterhalb der x-y-Ebene, d. h. für negative z-Werte
Die Datenausgabe erfolgt immer im Gerätekoordinatensystem, nicht im Weltkoordina‐
tensystem.
8027118/0000/2022-11 | SICK
Irrtümer und Änderungen vorbehalten