356 10 005
Equotip 550 UCI bestehend aus Equotip Touchscreen
mit Akku, Equotip UCI Sonde HV1-HV5, UCI Sonden-
kabel, UCI Härtevergleichsplatte ~850 HV, Netzteil,
USB-Kabel, Vergleichsplatte für die Oberflächenrauheit,
DVD mit Software, Dokumentation, Tragriemen und
Tragkoffer.
356 10 006
Equotip 550 Leeb U (für Papier, Film und Folien)
bestehend aus Equotip Touchscreen mit Akku, Equotip
Leeb Schlaggerät U, Reinigungsbürste, Sondenkabel,
Netzteil, USB-Kabel, DVD mit Software, Dokumentation,
Tragriemen und Tragkoffer.
356 10 020
Equotip 550 Portable Rockwell & UCI Kit bestehend
aus Equotip 550 UCI (356 10 005) und Equotip Portable
Rockwell Sonde 50 N (356 00 600)
356 10 021
Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D Kit
bestehend aus Equotip 550 Leeb D (356 10 002) und
Equotip Portable Rockwell Sonde 50 N (356 00 600)
356 10 022
Equotip 550 Leeb D & UCI Kit bestehend aus Equotip
550 Leeb D (356 10 002), Equotip UCI Probe HV1-HV5
(356 00 700) und Equotip UCI Härtevergleichsplatte
~850 HV, ISO 6507-3 HV5 Kalibration (357 54 100)
© 2017 Proceq SA
14.2
Schlaggeräte und Sonden
Beschreibung
Artikel-Nr.
Schlaggerät mit Anschlagkappe, Schlagkörper, Kabel
356 00 500
Equotip Leeb Schlaggerät C
356 00 100
Equotip Leeb Schlaggerät D
356 00 110
Equotip Leeb Schlaggerät DC
356 00 120
Equotip Leeb Schlaggerät DL
356 00 400
Equotip Leeb Schlaggerät E
356 00 300
Equotip Leeb Schlaggerät G
356 00 200
Equotip Leeb Schlaggerät S
360 04 600
Equotip Leeb Schlaggerät U
Nur Schlaggerät
353 00 501
Equotip Basic Leeb Schlaggerät C
353 00 101
Equotip Basic Leeb Schlaggerät D
353 00 111
Equotip Basic Leeb Schlaggerät DC
353 00 121
Equotip Basic Leeb Schlaggerät DL
353 00 401
Equotip Basic Leeb Schlaggerät E
353 00 301
Equotip Basic Leeb Schlaggerät G
353 00 201
Equotip Basic Leeb Schlaggerät S
360 04 032
Equotip Basic Leeb Schlaggerät U
356 00 600
Equotip Portable Rockwell Sonde 50 N
(für Equotip 550 oder PC)
356 00 700
Equotip UCI Sonde HV1-HV5
Inhaltsverzeichnis
49