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Tab. 52: Testperioden und Ansprechzeiten
Testperiode beider Testausgänge (ms)
Testausgang 1
40
40
200
200
400
400
600
600
800
800
1000
1
Entnehmen Sie die Werte dem Bericht in samosPLAN 6 .
Beispiel
Das folgende Beispiel zeigt die die Ermittlung der Ansprechzeit einer Sicherheitsfunktion (Sen-
sor – Logik – Aktor).
Tab. 53: Ansprechzeit einer Sicherheitsfunktion
Teilfunktion
Ansprechzeit des Sensors
Testzeit bei testbaren Sensoren, z. B. BWS
Typ2
Bei testbaren Sensoren erhöht sich die An-
sprechzeit um die aktive Testlücke + 12 ms.
So ergibt sich z. B. bei einer Testlücke von 4ms
eine zusätzliche Ansprechzeit von 4 ms +
12 ms = 16 ms
Filterzeit
Wenn Ein-Aus-Filter aktiv, dann + 8ms
Standardzeit
Eingang Controller-Modul auf Ausgang Con-
troller-Modul
bei einer Zykluszeit von 4 ms.
Logik Abschaltverzögerungszeiten
Wenn im Logikplan Funktionsblöcke mit Ab-
schaltverzögerung verwendet werden, dann
müssen diese Zeiten zur Ansprechzeit addiert
werden.
Ansprechzeit des Aktors
Gesamtzeit
Wieland Electric GmbH | BA000965 | 08/2017 [8151]
1
Resultierende zusätzliche Ansprechzeit (ms)
Testausgang 2
SP-SDIO (bis B-07)
SP-COP (bis D-01.xx)
40
20
200–1000
40
200
100
400–1000
200
400
300
600
400
800–1000
400
600
500
800
600
1000
800
700
1000
800
1000
900
Technische Daten
SP-SDIO (ab B-08)
SP-COP (ab D-03.xx)
40
80
200
400
400
600
800
600
800
1000
800
1000
1000
Zeit
Bemerkung
+ 18,0 ms
Herstellerangaben
+ 16,0 ms
Testgeneratoren T1
bis T4
oder X1 bis X8
0,0 ms
samosPLAN 6
+ 11,6 ms
Siehe Tabelle „Stan-
dardzeit"
0,0 ms
samosPLAN 6
+ 35,0 ms
Herstellerangaben
80,6 ms
81
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