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7
Anhang
7.1
Technische Daten
7.1.1
IC Detector 732
Leitfähigkeitsmessung
Messbereiche
Full Scale
Temperaturkorrektur
Genauigkeit Absolutwert
Linearität
Temperaturabhängigkeit
Abhängigkeit von Zellkonst..
Drift (elektronisch)
Rauschen (elektronisch)
Dämpfung
Autozero
Funktion
Auslösung
Maximaler Fehler
Linearer Bereich
Marker
Signal
Auslösung
732 IC Detector / 733 IC Separation Center
100, 200, 500, 1000, 2000, 5000, 10'000 µS/cm
0.05...10'000 µS/cm
Automatische Korrektur der gemessenen
Leitfähigkeit auf Referenztemperatur 20°C mit
dem einstellbaren Temperaturkoeffizienten
(1.5 %/°C oder 2.5 %/°C)
< 4 % vom Full-Scale-Wert für alle Bereiche bei
folgenden Referenzbedingungen:
Abgleich mit Referenzwiderstand auf 1.000 V
(Bereich 1 mS/cm, Zellkonstante 16.7 /cm,
Temp.koeff. 2.5 %/°C, Frequenz 5 kHz, Raum-
temperatur) auf < ± 2 mV genau, Messgenauig-
keit < 0.5 % nach 30 min Aufwärmzeit
Bis ± 150 % jedes Full-Scale-Bereichs
Abweichungen < 0.5 % des Full-Scale-Bereichs
Typ. 25 ppm/°C
< ± 1 % über gesamten Einstellbereich
< 0.0013 % des gewählten Messbereichs /h/°C
Typ. < 0.0003 % des gewählten Messbereichs
2-stufige Dämpfung (Bessel 4. Ordnung)
"
"
Dämpfung = aus
"
"
Dämpfung = ein
Automatische Nullsetzung (elektronische
Untergrundkompensation) im ganzen wählbaren
Messbereich
Manuell oder extern (RS232, Remote)
± 0.6 % des Full-Scale-Bereichs
± 150 % des Full-Scale-Bereichs
Ca. 10 % des Full-Scale-Bereichs
Manuell oder extern (RS232, Remote)
7.1 Technische Daten
0.25 s (10...90 %)
2.00 s (10...90 %)
189
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Fehlerbehebung
