Inhaltsverzeichnis
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5 Anhang
5.1
Technische Daten
5.1.1
Leitfähigkeitsmessung
Messbereich 1
Messbereich 2
Messbereich 3
Messbereich 4
Maximaler Fehler
Linearität
Rauschen
Drift (elektronisch)
Temperaturabhängigkeit
Bereichsreserve
Messrate
5.1.2
Leitfähigkeitsdetektor
Aufbau
Messprinzip
Effektives Zellvolumen
Zellkonstante
Maximaler Gegendruck für
Messzelle
Thermostatisierung
Arbeitstemperatur
Max. Temperaturabweichung ± 2.5°C
861 Advanced Compact IC / Gebrauchsanweisung 8.861.1031
Soweit nicht anders angegeben, sind die publizierten
Daten typische Werte für den 861 Advanced Compact
IC bei einer Umgebungstemperatur von 25°C.
0...5000 µS/cm (Auflösungsschritt: 2.80 nS/cm)
0...1000 µS/cm (Auflösungsschritt: 0.56 nS/cm)
0...250 µS/cm (Auflösungsschritt: 0.14 nS/cm)
0...50 µS/cm (Auflösungsschritt: 0.028 nS/cm)
± 1 % vom Full-Scale-Wert und
± 1 % vom Messwert (k = 16.7/cm)
Abweichungen < ±0.5 % des Full-Scale-Wertes
typ. 0.2 nS/cm (Gesamtrauschen des Systems -
chemisch und elektronisch mit Trennsäule und
sequentieller Suppression)
typ. < 10 ppm/h vom Full-Scale-Wert
typ. < 40 ppm/°C vom Full-Scale-Wert
> 33 % (k = 16.7/cm)
10 Messungen/s fix
Thermostatisierter Leitfähigkeitsdetektor mit
2 ringförmigen Stahlelektroden
Wechselstrommessung mit 1 kHz Frequenz und
ca. 1.7 V Amplitude (peak to peak).
0.8 µL
ca. 17 /cm (der genaue Wert ist auf dem Detektor
aufgedruckt)
5.0 MPa (50 bar)
Zuschaltbare dynamische Regelung auf einstell-
bare Arbeitstemperatur
Einstellbar in Schritten von 5°C von 25...45°C
5.1 Technische Daten
85
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