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性能検査手順
IsoVu 測定システムの性能を検証するには、次の手順を実行します。次の手順を開始する前に、検査記録をコピー
し、その用紙を性能試験結果の記録に使用してください
必要な機器
性能検査手順を実行するために必要な機器を次の表に記します。
表 3 : 性能検査に必要な機器
概要
TekVPI インタフェースを備えた対応
オシロスコープ
DC 電圧源
SMA（Ma）短絡コネクタ・キャップ
（オプション）
デジタル・マルチメータ（DMM）
50 Ω ターミネータ 1 台
高確度ターミネーション・テスト・
フィクスチャ
TekVPI 校正性能検査装置
システム RMS ノイズ
この手順により、TIVP シリーズプローブが正常に機能していることと、ノイズの保証仕様が満たされていること
を確認します。ノイズは、最も感度の高い範囲で入力信号がない状態で測定されます。
始める前に
1. TekVPI オシロスコープの電源を投入します。
2. TICP プローブをオシロスコープのチャンネル 1 に接続し、TICP プローブ･チップを取り外します（取り付けら
れている場合） 。
3. 室温（約 20 ℃（68 ℉） ）でテスト機器を 30 分間ウォーム・アップします。
このタスクについて
この手順は、すべてのバージョンの TICP シリーズプローブで有効です。
手順
1.
File（ファイル）＞ Default Setup（デフォルト設定）の順にタップします。
2.
Signal Path Compensation（信号パス補正）を実行します（Utility > Calibration...（ユーティリティ > 機器校正で推
奨されている場合） 。
3.
自己校正（Self-calibration）を実行します。
TICP シリーズ アクティブ絶縁型電流シャント・プローブ ユーザ・マニュアル
Test record
最低限の必要条件
50Ω 入力対応、 TekVPI インタフェース
完全対応
3 mV～4 V、確度±0.1%
内部短絡、銅メッキ接点
確度 0.1％以上
インピーダンス 50 Ω；コネクタ：メ
ス BNC 入力、オス BNC 出力
性能検査手順
製品の一例
テクトロニクス 5 シリーズ B MSO
Fluke 9500B オシロスコープ ・ キャリブ
レータ（Fluke 9500 アクティブ・ヘッ
ド付き）
Fairview Microwave SC2135
Tektronix DMM6500
テクトロニクス部品番号：011-0049-XX
テクトロニクス部品番号 ： 067-3281-XX
テクトロニクス部品番号 ： 067-1701-XX
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