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Produktbeschreibung
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Produktbeschreibung
Mit EtherCAT-Schalt-Ausgangsklemmen verschiedener Schalttechnologie können systemintegriert einfach
digitale oder analoge Signale durch das Öffnen und Schließen von elektrischen Verbindungen verteilt
werden. Mitunter wird dieses Verfahren angewendet, wenn mehrere Sensorsignale aus Kostengründen bzw.
zur Vereinfachung der Schaltungstechnik von einem zentralen Analogeingang ausgewertet werden sollen,
d.h. eine 1:n-Schaltung. Die n Sensorleitungen werden dann in einem festgelegten Rhythmus nacheinander
dem zentralen Analogeingang zugeführt, das sogenannte Multiplex-Verfahren. Im Folgenden ist ein Beispiel
gezeigt, bei dem von acht Schwingungssensoren die Signale zu zwei IEPE-Eingängen geführt werden:
Das Multiplex-Verfahren lässt sich ebenfalls auf Ausgangspotentiale anwenden, d.h. ein Analogausgang
kann auf mehrere Aktoren nacheinander zugeteilt werden. Zudem kann
• durch viele Schalter eine n*m Matrix-Strukturen realisiert,
• oder generell Leitungen temporär getrennt, z.B. zu Diagnosezwecken und
• das Prinzip ebenso auf digitale Signale angewendet werden (je nach Leistungsfähigkeit der Schalter).
Ein erkennbarer „Nachteil" dieses Verfahrens ist offensichtlich und bestimmt auch die Einsatzmöglichkeit: es
besteht nicht ständig (kontinuierlich) auf alle Quellen zugleich Zugriff. Die Anwendung muss es erlauben,
dass auf eine Quelle immer nur zeitweise zugegriffen wird. Wenn eine 1:1-Verbindung der Signalquellen mit
entsprechenden Analogeingängen aber nicht erforderlich und den Signalen nach dem Umschalten die nötige
Einschwing- und Stabilisierungszeit gegeben wird, kann das Multiplex-Verfahren oft die richtige Lösung sein,
um mitunter erhebliche Platz- und Kostenvorteile zu gewinnen.
Bezogen auf analoge Signale, erweitern die in dieser Dokumentation beschriebene Geräte so die
Einsatzmöglichkeiten für Standard- wie auch Präzisionsanalogtechnik erheblich und ermöglichen:
• ATE: automated test equipment,
• HIL: Hardware-in-the-loop Systeme,
• Vielkanalige Temperaturmessung in der Baustoffentwicklung,
• Vielkanalige Vibrationsüberwachung (ConditionMonitoring),
• Widerstandsimulation (durch Parallelschaltung).
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Version: 1.0
ELM2xxx
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