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TD8000 Bedienerhandbuch
Bauteil auf dem Defekt-Board an. Testergebnisse können als einfache PASS/FAIL-Antwort
oder als Verbindungsschema und Logikdiagramm dargestellt werden, um auch subtilere
Fehler untersuchen zu können.
Testen von Digital-IC´s außerhalb der Schaltung
Beim Test von Bausteinen außerhalb der Schaltung muß der Anwender lediglich einen
Testclip an den Bauteil anklemmen und die Bauteiltype - sofern bekannt - spezifizieren.
Während eines ICT legt der TD8000 automatisch die Versorgungsspannung an den
Bauteil an und vergleicht die logischen Funktionen des Bausteins mit dem
korrespondierenden idealen Baustein aus der TD8000 Bauteilbibliothek. Jedes
Bauteilprogramm in der Bibliothek besteht aus einer Sequenz von Testmustern die den
Baustein initialisieren, die Eingänge treiben und die Ausgänge auf entsprechendes
Verhalten überprüfen.
Nach dem Test können die logischen Operationen des Bauteils (z.B. die Zusammen-
hänge zwischen Eingängen, Clocksignalen, Steuersignalen und Ausgängen) in
Diagrammform betrachtet und mit dem „idealen" Baustein in der Bibliothek verglichen
werden. Unterschiede zwischen den Testobjekt und dem Bauteil in der Datenbank werden
Rot markiert.
Ist die Bauteiltype nicht bekannt, kann der Benutzer die leistungsfähige Bauteil-
erkennungsfunktion des TD8000 einsetzen, um Vergleichstypen aus der Bibliothek
herauszufinden.
Testen von Digital-IC´s in der Schaltung
In einigen Fällen verhält sich der IC im eingebauten Zustand gleich wie im ausgelöteten
Zustand und der Benutzer muß nur den Testclip aufsetzen und die Bauteiltype angeben.
Generell muß der TD8000 jedoch zuerst einlernen wie sich der Baustein auf einem
Gut-Board verhält. Während des Lern-Vorganges wird das Verhalten des im Gut-Board
eingebauten IC´s mit dem Standard-Verhalten verglichen und die Unterschiede in einer
Testdatei aufgezeichnet.
Die Testdatei, welche den eingelernten Baustein beinhaltet, wird dann während des
Testvorganges als Referenz verwendet, um suspekte Bauteile auf dem Defekt-Board zu
überprüfen.
Backdriving
Um einen Digitalbaustein vollständig zu testen, muß ein Testprogramm das Verhalten des
IC´s bei allen möglichen Signalkombinationen an den Eingängen überprüfen.
Das TD8000 Testsystem beinhaltet zu diesem Zweck Schaltkreise, welche als Stromquelle
und Stromsenke dienen und ausreichend Strom liefern bzw. aufnehmen um die logischen
Zustände an jedem Pin des Bausteins zu überfahren und in einen definierten Zustand -
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Fehlerbehebung
