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Abschnitt 1 - Einführung; Das Td8000 Fehlersuchgerät; Analoge Signaturanalyse - Polar TD8000 Bedienerhandbuch

Inhaltsverzeichnis

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EINFÜHRUNG
ABSCHNITT 1 - EINFÜHRUNG
1.1 DAS TD8000 FEHLERSUCHGERÄT
Der TD8000 Fehlersucher ist ein schnelles und effizientes Hilfsmittel zum Testen von
Bauteilen, und zwar sowohl in der Schaltung, als auch ausgebaut.
Der TD8000 ist für die Steuerung durch einen IBM-kompatiblen PC ausgelegt.
Der TD8000 stellt Funktionen und eine Umgebung bereit, um Testprogramme für eine
Vielfalt an Bauteilen zu generieren; der Anwender kann im gleichen Testprogramm zwei
leistungsstarke Fehlersuchtechniken - die Analoge Signaturanalyse und den In Circuit Test
- einsetzen.
Analoge Signaturanalyse (ASA)
An die Bauteile werden sichere, leistungsarme Prüfspannungen gelegt, die auf dem
Bildschirm eine sogenannte "Impedanzsignatur" erzeugen. Alle Tests werden ohne
Versorgungsspannung auf den zu prüfenden Platinen durchgeführt, so daß weder der
Benutzer gefährdet, noch das Testobjekt beschädigt werden kann.
Ein eingebauter Pulsgenerator erlaubt den Funktionstest von Bauteilen mit drei
Anschlüssen wie z.B. Transistoren, SCRs, Triacs, etc.
Der eingebaute Scanner ermöglicht weiters die Überprüfung von ICs. Der Scanner
ermöglicht es, die einzelnen Anschlüsse sehr schnell abzutasten und die Signaturen jedes
Pins in Farbe auf dem Bildschirm des Steuercomputers anzuzeigen. Ist eine gute Platine
als Referenz verfügbar, können die Signaturen automatisch verglichen werden.
Signaturen von guten Bauteilen können rasch digitalisiert, angezeigt und auf der Harddisk
des Steuerrechners gespeichert bzw. mit verschiedensten Druckern ausgedruckt werden.
Der TD8000 kann automatisch Signaturen von verdächtigen Bauelementen mit den
Referenzsignaturen auf der Harddisk vergleichen und die Testergebnisse und die guten
und schlechten Signaturen für den Vergleich ausdrucken.
Bibliotheken von guten Signaturen können in Servicezentren, die ebenfalls einen TD8000
besitzen, versendet werden und anstelle einer guten Referenzplatine zum Vergleich
herangezogen werden. Kurzschlüsse einzelner Pins mit Masse (COM) werden während
des Tests automatisch erkannt.
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