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Polar Instruments Ltd.
Garenne Park
St. Sampsons
Guernsey
Channel Islands
Tel:
+44 481 53081
Fax: +44 481 52476
:
Vertrieb und Service
Polar Instruments
A-1150 Wien, Schweglerstraße 45 / 4
Tel.: (+43)-1- 98 54 680-0 Fax: DW 20
TD8000
Bedienerhandbuch

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Inhaltszusammenfassung für Polar TD8000

  • Seite 1 Polar Instruments Ltd. Garenne Park St. Sampsons Guernsey Channel Islands Tel: +44 481 53081 Fax: +44 481 52476 Vertrieb und Service TD8000 Bedienerhandbuch Polar Instruments A-1150 Wien, Schweglerstraße 45 / 4 Tel.: (+43)-1- 98 54 680-0 Fax: DW 20...
  • Seite 2 Copyright Polar Instruments, 1994 Teilweises Copyright Genus Microprogramming Inc. 1988-1991 Teile der ICT-Bibliothek  GenRad Inc., 1986 LHA Copyright  Haruyasu Yoshizaki 1988 - 1991 Microsoft und MS-DOS sind eingetragene Namen der Microsoft Corporation. IBM ist das eingetragene Warenzeichen der International Business Machines Corporation.
  • Seite 3 TD8000 FEHLERSUCHGERÄT BEDIENUNGSHANDBUCH GARANTIE POLAR Instruments Ltd. sowie der autorisierte Vertreter gewähren für dieses Gerät eine Garantie für die Dauer eines Jahres. POLAR Instruments Ltd. sowie der autorisierte Vertreter behalten sich vor, das Gerät zu reparieren oder zu ersetzen, falls Material- oder Verarbeitungsmängel die Ursache eines Defekts sind.
  • Seite 4: Sicherheitshinweise

    Geräts könnte zu einer Gefährdung von Personen führen. VORSICHTSMASSNAHMEN Elektrische Isolierung Der TD8000 legt ein elektrisches Testsignal an das Meßobjekt. Stellen Sie sicher, daß das Meßobjekt an keine Fremdstromversorgung angeschlossen ist. Eine externe Strom- versorgung könnte den Tester beschädigen.
  • Seite 5: Netzanschluss

    TD8000 Bedienerhandbuch NETZANSCHLUSS Das Gerät wurde für den Betrieb an 100 - 130 Volt oder 200 - 250 Volt mit 50 oder 60 Hz Netzwechselspannung mit Schutzleiter ausgelegt. Geräte, deren Seriennummer mit einem Buchstaben beginnen (z.B. "A 12345"), sind nur für den Betrieb von 90 - 110 Volt ausgelegt.
  • Seite 6: Spezifikationen

    TD8000 Bedienerhandbuch SPEZIFIKATIONEN ASA - TESTFUNKTIONEN Testkanäle Program und Test 2 x 64 Live Testbereiche Junction 500µA Logic 150mA High 90Hz Testfrequenzen Low 500Hz Medium 2kHz High Live-Modi Manual, Auto, Cycle 0 – ±5V variabler Pegel Pulsgenerator DC, Pulse mode 1,...
  • Seite 7: Netzanschluß

    TD8000 Bedienerhandbuch Netzanschluß 200 - 250V, 100 - 130V oder 90 - 110V bei 50/60Hz, 35VA. Netzsicherungen: 200 - 250V, 2A Träge 90 - 130V, 4AT Träge Kanal A und B Schutzsicherungen 160mA Flink Abmessungen Breite 443mm Höhe 114mm Tiefe 280mm Gewicht 7.0 kg...
  • Seite 8: Zubehör

    TD8000 Bedienerhandbuch ZUBEHÖR Standardzubehör Netzkabel Prüfspitzenset Kabelset für Pulsgenerator Kabelset für User Supply Bedienerhandbuch 2 Stk. 16 polige IC -Testclips mit Flachbandkabel 2 Stk. 40 polige IC -Testclips mit Flachbandkabel Fußpedal RS-232 Interfacekabel Zubehörtasche Optionelles Zubehör Adapterplatte (T41282) Adapter für PC AT-Direktsteckverbinder (T41283) Nullkraftsockeladapter (ACC125) SMD-Prüfspitzen (ACC125)
  • Seite 9: Führer Durch Das Handbuch

    TD8000 Bedienerhandbuch FÜHRER DURCH DAS HANDBUCH EINFÜHRUNG Eine Einführung des TD8000 Fehlersuchers und seine Anwendungen. ALLGEMEINE BESCHREIBUNG Eine Beschreibung der prinzipiellen Arbeitsweise, der Steckverbinder und der Rückwand. INSTALLATION Anschluß des Gerätes an die Netzversorgung, UND VORBEREITUNG Softwareinstallation, Vorbereitung für den Betrieb.
  • Seite 10: Inhaltsverzeichnis

    In Circuit-Test....................1-2 1.2 Einsatzbereiche.................... 1-2 1.3 Rechnersteuerung..................1-2 1.4 Systemanforderungen .................. 1-3 ABSCHNITT 2 - ALLGEMEINE BESCHREIBUNG..........2-1 2.1 FUNKTIONSPRINZIP .................. 2-1 ASA ......................2-1 ICT ......................2-1 2.2 Die TD8000 Frontplatte ................2-2 2.3 Die TD8000 Rückwand ................2-2 viii...
  • Seite 11 3.2 Anstecken der Netzspannung ..............3-1 3.3 Installation der TD8000-Software ..............3-3 Installation der Software für den Betrieb unter MS Windows ....... 3-3 3.4 Anschluß des TD8000 an den Computer ............. 3-4 3.5 Starten des Programms ................3-5 Das Hauptmenü ................... 3-5 3.6 Das Utilities-Menü...
  • Seite 12 TD8000 Bedienerhandbuch Testen von Digital-IC´s in der Schaltung ............5-2 Backdriving....................5-3 5.2 Die TD8000 Bauteilbibliothek ............... 5-4 TD8000 Treiber-Entwicklungssoftware............5-4 TEST VON DIGITAL-IC´s AUSSERHALB DER SCHALTUNG......5-5 5.3 Der zweistufige ICT-Test................5-7 Der Verbindungstest..................5-7 Der Funktionstest ..................5-8 Ict ......................
  • Seite 13 6.14 Manuelle Auswahl der Pins ................6-15 Verwenden des Fußpedals ................6-15 Beep-Modus....................6-15 ABSCHNITT 7 - DIE PROGRAMMIERUNG DES TD8000 ........7-1 7.1 Program - Erstellen und Ändern von Programmen........7-1 7.2 File - Laden oder Erstellen neuer Testprogramme ........7-2 7.3 Name - Angabe eines erweiterten Programmdateinamens ......
  • Seite 14 TD8000 Bedienerhandbuch Step Rate - Steuerung der Bereichs- und Pinumschaltrate ....7-9 Pin für Pin-Tests .................. 7-9 Pulser - Einstellen des Pulsgenerators ..........7-9 Filter - Mathematische Verarbeitung von Signaturen ......7-10 Die Notizblock-Datei ................7-10 7.6 Edit - Verändern von Bauteilparametern ............7-11 7.7 Delete - Entfernen von Bauteilen aus einem Programm ......
  • Seite 15 ANHANG Beispiele von Analogsignaturen Der Signatur-Vergleichsalgorithmus Der Datei-Übersetzer SIP / DIP Numerierungsformat TD8000 PROGRAMMIERBEISPIEL ............E-1 Ablauf des TD8000-Steuerprogramms............E-1 Schreiben eines Testprogramms ............E-1 Erstellen einer Testdatei ..............E-1 Einfügen eines Bauteils ............... E-2 Durchführen eines ASA-Tests ............. E-2 Einlernen von Signaturen..............
  • Seite 16 TD8000 Bedienerhandbuch Testen eines Bauteils................E-6 Hinweise....................... E-7 SMD-PRÜFSPITZEN ................... F-1 Pinnumerierung .................... F-1 Verwendung der Prüfspitze ................F-1 Austausch der Nadeln................F-2...
  • Seite 17 TD8000 Bedienerhandbuch...
  • Seite 19: Abschnitt 1 - Einführung

    ABSCHNITT 1 - EINFÜHRUNG 1.1 DAS TD8000 FEHLERSUCHGERÄT Der TD8000 Fehlersucher ist ein schnelles und effizientes Hilfsmittel zum Testen von Bauteilen, und zwar sowohl in der Schaltung, als auch ausgebaut. Der TD8000 ist für die Steuerung durch einen IBM-kompatiblen PC ausgelegt.
  • Seite 20: In Circuit-Test

    TD8000 Bedienerhandbuch In Circuit-Tests Der TD8000 kann mittels der ICT-Methode digitale Bauteile auf ihre logische Funktion hin prüfen und mit den korrespondierenden Bibliotheksdaten der Datenbank vergleichen. Der TD8000 ist außerdem fähig, die Funktion eines Bauteils im eingebautem Zustand zu „erlernen“ und dieses spezielle Verhalten als Referenz zu verwenden.
  • Seite 21: Systemanforderungen

    EINFÜHRUNG 1.4 Systemanforderungen Bevor Sie das Steuerprogramm des TD8000 installieren, sollten Sie sicherstellen, daß der vorgesehene Steuerrechner den folgenden Anforderungen entspricht: Computer - IBM PC oder kompatibel Prozessor - 80286 oder höher Speicher - 640 KByte RAM min. Bildschirm und Bildschirmkarte - Standard-VGA in Farbe 5 1/4"...
  • Seite 22 TD8000 Bedienerhandbuch...
  • Seite 23: Abschnitt 2 - Allgemeine Beschreibung

    Die Datenbank des TD8000 enthält eine Vielzahl an integrierten Logikbausteinen (von verschiedenen Familien), von einfachen Gattern bis hin zu Prozessoren. Der TD8000 kann das Verhalten eines Bausteines im eingebauten Zustand einer guten Platine „erlernen“ und verwendet dieses als Referenz. Bauteilanschlüsse, die permanent auf Low oder High liegen bzw.
  • Seite 24: Die Td8000 Frontplatte

    Die Prüfspitzen Kanal A und B sind mit den Scannereingängen parallel geschaltet, um die Überprüfung von offenen Clipverbindungen zu erleichtern. Wird der TD8000 auf Probes geschaltet, sind die Scanner-Steckverbinder von den Prüfspitzen isoliert. Dies ist wichtig, wenn kleine Kapazitäten getestet werden sollen, bei denen sich die Streukapazität des Scanners negativ auswirken könnte.
  • Seite 25: Abschnitt 3 - Installation Und Vorbereitung

    Das Gerät wird in einem stabilen Transportkarton ausgeliefert. Öffnen Sie den Karton vorsichtig und nehmen Sie das Gerät mit Zubehör heraus. Sollte das Gerät beschädigt sein, so kontaktieren Sie bitte die lokale POLAR-Vertretung. Bewahren Sie den Karton für eine eventuelle spätere Verwendung auf.
  • Seite 26 Ist der Selbsttest nach dem Einschalten gänzlich positiv verlaufen, leuchtet die LED SYSTEM OK. Blinkt diese LED, so deutet dies darauf hin, daß ein oder mehrere Schritte der Diagnose fehlgeschlagen sind - kontaktieren Sie in diesem Fall den lokalen Polar-Generalvertreter.
  • Seite 27: Installation Der Td8000-Software

    6. Klicken Sie auf Anderes Symbol ... und bestätigen Sie mit OK bei der Warnung, daß kein Symbol zur Verfügung steht. 7. Geben Sie in die Dialogbox Anderes Symbol den Eintrag c:\td8000\polar.ico in das Feld Dateiname ein. 8. Klicken Sie OK, und das Logo erscheint - Klicken Sie nochmals OK.
  • Seite 28: Anschluß Des Td8000 An Den Computer

    Stellen Sie sicher, daß sowohl der Computer als auch der TD8000 ausgeschaltet sind, bevor Sie die Kabelverbindung herstellen. Schließen Sie das Kabel an die serielle Schnittstelle des Computers und des TD8000 an. Achten Sie auf einen festen Sitz der Stecker.
  • Seite 29: Starten Des Programms

    TD8000 und danach <ENTER> - sogleich erscheint das Hauptmenü am Bildschirm. Das Hauptmenü Der TD8000 wird über ein logisch aufgebautes Menüsystem gesteuert. Die Wahl einer Menüoption öffnet das zugehörige Untermenü bis die gewünschte Auswahl erreicht ist. Das Hauptmenü zeigt die Optionen der obersten Menüebene:...
  • Seite 30: Das Utilities-Menü

    TD8000 Bedienerhandbuch 3.6 Das Utilities-Menü - Einstellung der Steuerprogrammumgebung des TD8000 Das Menü Utilities erlaubt die Anpassung der Arbeitsumgebung des TD8000. Der Programmierer kann aus diesem Menü: Paßworte und Zugriffsrechte definieren • spezifizieren, welche Schnittstelle des Steuerrechners für den Datentransfer verwendet •...
  • Seite 31: Auswahl Der Seriellen Schnittstelle

    Die Parametereinstellung der Schnittstelle (z.B. Baudrate, Start- Stop-Bit, Parität) wird vom Programm durchgeführt. 3.8 Installation des Bildschirmtreibers Die TD8000 Software bietet die Möglichkeit, Bauteilsignaturen am Bildschirm anzuzeigen und auf einem Drucker als Hardcopy auszudrucken. Um einen Ausdruck erzeugen zu können, ist es notwendig, den korrekten Bildschirmtreiber zu installieren, d.h.
  • Seite 32 Eintragung löschen. Wenn die korrekte Nummer angezeigt wird, geben sie <ENTER> ein. Wenn ein Treiber gewählt wurde, fügt das TD8000-Programm automatisch einen Befehl in die AUTOEXEC.BAT - Datei des Rechners ein. Sie finden unter Abschnitt 3.3 detaillierte Informationen über den Druckerbetrieb unter Microsoft Windows.
  • Seite 33: Systemsicherheit

    Die Option Security erlaubt es dem Systemverantwortlichen, ein Paßwort zu setzen, um Testprogramme und Systemeinstellungen vor unbefugter Änderung oder Löschung zu schützen. Die TD8000 - Software hat zwei Sicherheitszustände: "Locked" und "Unlocked". Die momentane Einstellung wird auf der Hauptmenüseite angezeigt. Ist das System unversperrt, hat der Benutzer Zugriff auf alle Funktionen.
  • Seite 34: Diagnose

    Hinweis: Die Option Restrict Access ist nur dann möglich, wenn ein Paßwort gesetzt wurde. Ist dies nicht der Fall, fordert das System zu einer Paßworteingabe auf. 3.10 Diagnose Die Option Diagnostics zeigt Information, die nötig ist, um Mitarbeitern der Fa. Polar bei technischen Unterstützungsarbeiten behilflich zu sein. 3.11 Schleifenkompensation Der TD8000 bietet die Möglichkeit, die Kapazitäten des Scannersystems und der Testclips...
  • Seite 35: Ausstieg Aus Dem Programm

    INSTALLATION UND VORBEREITUNG 3.12 Ausstieg aus dem Programm Um das TD8000-Programm am Ende der Programmierung oder der Tests zu beenden, wählen Sie eXit to dos, entweder vom Hauptmenü oder vom Utilities Menü. Der Rechner wechselt in die Betriebssystemebene und zeigt das Prompt-Zeichen.
  • Seite 36 TD8000 Bedienerhandbuch 3-12...
  • Seite 37: Abschnitt 4 - Asa Bauteiltests

    BAUTEILTESTS ABSCHNITT 4 - ASA BAUTEILTESTS ASA BAUTEILTESTS Bei der Analogen Signaturanalyse werden sichere, extrem leistungsarme Spannungen auf verschiedene Punkte einer Schaltung gelegt, die sogenannte „Impedanzsignaturen“ auf dem PC-Bildschirm erzeugen. Impedanzsignaturen sind Kurven, in denen der Strom über der Spannung aufgetragen wird.
  • Seite 38: Signaturformen

    TD8000 Bedienerhandbuch Alle Signaturen befinden sich innerhalb des rautenförmigen Feldes, welches durch die "Lastkurven", die die Endpunkte der Achsen verbinden, gebildet wird. Signaturformen Der folgende Abschnitt beschreibt die charakteristischen Formen der Signaturen. Normalerweise wird die rascheste Diagnose durch Vergleich zweier Signaturen erreicht.
  • Seite 39 BAUTEILTESTS Abbildung 4-2 2 K Widerstand LOGIC Bereich LOW Frequenz Abbildung 4-3 10 K Widerstand HIGH Bereich LOW Frequenz Abbildung 4-4 270 K Widerstand HIGH Bereich LOW Frequenz...
  • Seite 40: Kondensatoren Und Spulen

    TD8000 Bedienerhandbuch 4.2 Kondensatoren und Spulen Aufgrund ihrer energiespeichernden Eigenschaft verursachen Reaktanzen eine Phasenverschiebung zwischen Spannung und Strom. Dies wird durch eine kreisförmige oder elliptische Signatur dargestellt. Abbildungen 4-5, 4-6 und 4-7 zeigen typische Signaturen von drei Kondensatoren. Bei einem rein kapazitiven oder induktiven Verhalten sind die Achsen der Ellipse mit den Achsen des Bildschirmes parallel.
  • Seite 41 BAUTEILTESTS Abbildung 4-7 82pF Kondensator HIGH Bereich HIGH Frequenz Abbildung 4-8 47µF Kondensator LOW Bereich LOW Frequenz Defekter Kondensator mit ohmschen Anteil Abbildung 4-9 47µF Kondensator LOW Bereich LOW Frequenz Guter Bauteil...
  • Seite 42 TD8000 Bedienerhandbuch Die Tabellen 4-3 und 4-4 zeigen die Bereiche von Kondensatoren und Spulen mit den zugehörigen Frequenzen und Spannungsbereichen. Frequenz Bereich High LOGIC 300nF - 6µF 56nF - 1µF 15nF - 300nF 6µF - 100µF 1µF - 20µF 300nF - 5µF...
  • Seite 43 BAUTEILTESTS Abbildung 18 Ferrittransformator Primärseite LOW Bereich HIGH Frequenz Abbildung 19 Ferrittransformator Primärseite LOW Bereich HIGH Frequenz Kurzgeschlossene Windung...
  • Seite 44: Halbleiter

    TD8000 Bedienerhandbuch HALBLEITER 4.3 Dioden, LEDs und Zenerdioden In Vorwärtsrichtung zeigt eine Diode einen niedrigen Widerstand und einen Spannungsabfall von ca. 0.6 V. Dies produziert eine Signatur mit einer nahezu vertikalen Linie an der Y-Achse (Siehe Abbildung 4-12). In Sperrichtung zeigt die Diode einen hohen Widerstand ähnlich einem Leerlauf- verhalten.
  • Seite 45 BAUTEILTESTS Abbildung 4.11 Kleinsignaldiode LOGIC Bereich LOW Frequenz Abbildung 4-13 8.2V Zenerdiode MED Bereich LOW Frequenz...
  • Seite 46: Transistoren

    TD8000 Bedienerhandbuch 4.4 Transistoren Ein Transistor enthält zwei Halbleiterübergänge, welche aneinandergefügt sind (einer zwischen Basis und Kollektor, einer zwischen Basis und Emitter). Abbildungen 4-14 - 4-16 zeigen typische Signaturen eines NPN Transistors (bei dem Kollektor und Emitter N-Type und die Basis P-Type ist).
  • Seite 47 BAUTEILTESTS Abbildung 4-14 NPN Transistor Basis-Emitter MED-Bereich LOW-Frequenz Abbildung 4-15 NPN Transistor Basis-Kollektor MED Bereich LOW Frequenz Abbildung 4-16 NPN Transistor Emitter-Kollektor MED Bereich LOW Frequenz 4-11...
  • Seite 48 TD8000 Bedienerhandbuch Funktionstest von Transistoren Durch Ansteuern der Basis kann ein Funktionstest an Transistoren durchgeführt werden. Damit wird die Steuerwirkung der Basis überprüft. Die folgende Prozedur gilt für einen NPN-Transistor. Der aussagekräftige Teil der Signatur befindet sich im oberen rechten Quadranten; Ignorieren sie den unteren linken Quadranten.
  • Seite 49 BAUTEILTESTS Abbildung 4-17 NPN-Transistor LOW Bereich LOW Frequenz Kollektor-Emitter PULSE DC - an Basis Abbildung 4-18 PNP-Transistor LOGIC Bereich MED Frequenz Kollektor-Emitter PULSE 1 - an Basis 4-13...
  • Seite 50: Jfets (Junction-Fets)

    TD8000 Bedienerhandbuch 4.5 JFETs (Junction Field Effect Transistors) Der JFET besteht aus einem Halbleiterblock (dem Kanal) und einer Region, die mit Halbleitermaterial der entgegengesetzten Type zum Kanal (dem Gate) dotiert ist. Das Gate formt einen Diodenübergang mit jedem Ende des Kanals (dem "Source" und "Drain"), welcher wie konventionelle Dioden getestet werden kann.
  • Seite 51 BAUTEILTESTS Abbildung 4-19 Junction FET LOGIC Bereich LOW Frequenz Drain-Source PULSE DC + an Gate 4-15...
  • Seite 52: Mosfets

    TD8000 Bedienerhandbuch 4.6 MOSFETs VORSICHT: Beachten Sie Antistatikvorkehrungen bei der Handhabung von MOSFETs. Verwenden Sie den LOGIC Bereich zum Testen (oder LOW für Leistungs-MOSFETs). Verwenden Sie nicht die Bereiche MED oder HIGH. MOSFETs sind Feldeffekttransistoren, deren Gate vom Kanal isoliert ist.
  • Seite 53: Optokoppler

    BAUTEILTESTS 4.7 Optokoppler Ein Optokoppler besteht aus einer Eingangsdiode und einem elektrisch isolierten Ausgangstransistor (meist ohne angeschlossene Basis). Die Eingangsdiode kann wie eine konventionelle Diode geprüft werden. Die Signatur des Ausgangstransistors (d.h. eine Kollektor-Emitter-Charakteristik) zeigt entweder eine horizontale Linie (für Leerlauf), oder eine Signatur wie in Abb. 4-16. Funktionstest von Optokopplern Das Leitverhalten der Ausgangstransistors wird durch das von der Eingangsleuchtdiode abgestrahlte Licht gesteuert.
  • Seite 54: Scrs

    TD8000 Bedienerhandbuch 4.8 Thyristoren (SCRs) Ein Thyristor kann als Diode mit einem zusätzlichen Steuereingang betrachtet werden (einem "Gate"). Verbinden Sie die Anode mit Kanal A, Die Kathode mit COM und das Gate mit einem der Pulsgeneratorausgänge. Wählen sie den LOW-Bereich, LOW Frequenz, Pulsausgang DC, Polarität +.
  • Seite 55: Triacs

    BAUTEILTESTS 4.9 Triacs Ein Triac ist ähnlich einem Thyristor, mit der Ausnahme daß er in beiden Richtungen leitet und durch einen positiven oder negativen Gatestrom gezündet werden kann. Verbinden Sie den Eingang MT2 mit Kanal A, MT1 mit COM, und das Gate mit einem der beiden Pulsgeneratorausgänge.
  • Seite 56: Integrierte Schaltkreise

    TD8000 Bedienerhandbuch Abbildung 4-23 Triac-Signatur 4.10 Integrierte Schaltkreise Für den Test von ICs werden die Bereiche LOGIC und LOW empfohlen. Alle integrierten Schaltkreise können durch Überprüfung von Anschlußpaaren getestet werden. Die meisten ICs, die auf diese Weise getestet werden, zeigen Signaturen ähnlich einer Diode oder Zenerdiode.
  • Seite 57 BAUTEILTESTS Abbildung 4-24 74LS00 LOGIC Bereich LOW Frequenz Eingang gegen Masse Abbildung 4-25 74LS00 LOGIC Bereich LOW Frequenz Ausgang gegen Masse Abbildung 4-26 74LS00 LOGIC Bereich LOW Frequenz Vcc gegen Masse 4-21...
  • Seite 58 TD8000 Bedienerhandbuch Abbildung 4-27 74HC02 LOGIC Bereich LOW Frequenz Eingang gegen Masse Abbildung 4-28 74HC02 LOGIC Bereich LOW Frequenz Ausgang gegen Masse Abbildung 4-29 74HC02 LOGIC Bereich LOW Frequenz Vcc gegen Masse 4-22...
  • Seite 59 BAUTEILTESTS Abbildung 4-30 4017 LOGIC Bereich LOW Frequenz Eingang gegen Masse Abbildung 4-31 4017 LOGIC Bereich LOW Frequenz Ausgang gegen Masse Abbildung 4-32 4017 LOGIC Bereich LOW Frequenz Vcc gegen Masse 4-23...
  • Seite 60 TD8000 Bedienerhandbuch Ein Beispiel eines defekten ICs wird in den Abbildungen 4-33 und 4-34 gezeigt. Abbildung 4-33 zeigt die Signatur zwischen Eingang und Masse eines guten ICs der Type 7650 im Schaltkreis. Abbildung 4-34 zeigt die Signatur eines defekten 7650 im selben Schaltkreis, dessen Eingangsschutzdioden ausgefallen sind.
  • Seite 61: Bauteiltests In Der Schaltung

    BAUTEILTESTS 4.11 Bauteiltests in der Schaltung Wenn ein Bauteil in der Schaltung getestet wird, so ist dessen Signatur aus den Signaturen des Bauteils und den parallelgeschalteten Komponenten zusammengesetzt. Dies ist beim Einsatz im Servicebereich fast immer der Fall. Die charakteristische Signatur ist bei jedem Prüfpunkt einzig für diesen Punkt in der Schaltung.
  • Seite 62 TD8000 Bedienerhandbuch Abbildung 4-36 Signatur an der Sekundärseite Guter Schaltkreis Abbildung 4-37 Signatur an der Sekundärseite D3 kurzgeschlossen 4-26...
  • Seite 63 BAUTEILTESTS Abbildung 4-37 zeigt den Effekt an der Signatur von Abbildung 4-36, wenn eine Diode einen Kurzschluß aufweist. Während der positiven Halbwelle des Prüfsignals (rechter Quadrant) ist die Signatur jene von Diode D1. Die übrigen Komponenten werden durch D3 kurzgeschlossen. Während der negativen Halbwelle (linker Quadrant) ist die Signatur eine Zusammensetzung von zwei Strompfaden;...
  • Seite 64: Testen Von Bauteilen Auf Einem Bus

    TD8000 Bedienerhandbuch 4.12 Testen von Bauteilen auf einem Bus Wenn eine Anzahl von Bauteilen mit einem gemeinsamen Bus verbunden sind, so können die einzelnen Leitungen auf dem Bus auf Unterschiede überprüft werden. Leitungen auf dem selben Bus zeigen normalerweise gleiche Signaturen (z.B.
  • Seite 65 BAUTEILTESTS 4-29...
  • Seite 67: Abschnitt 5 - Ict Bauteiltests

    TD8000 mit ICT ein logisches Gatter auf Übereinstimmung mit der Wahrheits- tabelle prüfen oder einen Zählerbaustein durch eine definierte Anzahl von Impulsen testen. ICT kann selbst sehr komplexe Bausteine testen - der TD8000 kann z.B. einen komplexen Speicherbaustein wie ein VLSI RAM prüfen indem jede Speicherstelle beschrieben, gelesen und verglichen wird.
  • Seite 68: Testen Von Digital-Ic´s Außerhalb Der Schaltung

    In einigen Fällen verhält sich der IC im eingebauten Zustand gleich wie im ausgelöteten Zustand und der Benutzer muß nur den Testclip aufsetzen und die Bauteiltype angeben. Generell muß der TD8000 jedoch zuerst einlernen wie sich der Baustein auf einem Gut-Board verhält. Während des Lern-Vorganges wird das Verhalten des im Gut-Board eingebauten IC´s mit dem Standard-Verhalten verglichen und die Unterschiede in einer...
  • Seite 69 Test this one Abbildung 5-2, Backdriving von vorgelagerten Gattern Der TD8000 ist in der Lage, Ströme bis zu 500mA durch die Testclips einzuspeisen oder aufzunehmen um an den Eingängen eine Logikbausteins definierte Zustände zu erzwingen. Der Backdriving-Strom zwingt die Ausgänge von vorgelagerten Gattern in den Logisch-HIGH oder LOW-Zustand, unabhängig von ihrem Ruhezustand.
  • Seite 70: Die Td8000 Bauteilbibliothek

    TD8000 Bedienerhandbuch 5.2 Die TD8000 Bauteilbibliothek Die TD8000 Software beinhaltet eine umfangreiche Datenbank von digitalen integrierten Schaltkreisen welche generell in der gesamten Elektronikindustrie Verwendung finden. Die Bibliothek besteht aus Funktions- und Pinzuordnungen zu den meistverwendetsten Digital-IC´s: TTL-Bausteine - 74 und 75 Serie...
  • Seite 71: Test Von Digital-Ic´s Ausserhalb Der Schaltung

    Alternativ zu den Testclips können Sie auch den Nullkraft-Sockel-Adapter ACC145 verwenden. Um einen Bauteil außerhalb der Schaltung zu prüfen, wählen Sie das Grundmenü wie folgt: Test Program Live Out of circuit test File Management Utilities eXit to DOS Abbildung 5-2, TD8000 Hauptmenü...
  • Seite 72 TD8000 Bedienerhandbuch Wählen Sie aus dem Hauptmenü die Funktion Out of circuit test - der ICT Out of Circuit Schirm erscheint mit dem Bauteiltyp 7400 geladen - siehe Abbildung 5-3. Abb. 5.3, Out of circuit test - Schirm Ist die Bauteiltype bekannt, so wählen Sie Device und geben die Bauteilbezeichnung in das Device-Feld ein.
  • Seite 73: Der Zweistufige Ict-Test

    Drücken Sie <ENTER> um die Bauteiltype zu bestätigen und den Bauteil zu testen - der TD8000 ruft das Prüfprogramm auf, legt für die Dauer des Tests die Versorgungs- spannung an den Bauteil an und führt den Test durch. Der TD8000 zeigt das Testergebnis, PASS oder FAIL gemeinsam mit dem Pindiagramm.
  • Seite 74: Der Funktionstest

    Die zweite Testphase besteht aus dem Funktionstest. Während des Funktionstests prüft der TD8000 den Bauteil auf korrektes logisches Verhalten. Der TD8000 ladet das Testprogramm für den Bauteil aus der Bibliothek, treibt alle Eingänge und überwacht die Ausgänge des IC´s. Das Ergebnis dieses Funktionstests wird im Logikdiagramm dargestellt. Das Pin- Diagramm und das Logik-Diagramm wird mit dem View-Befehl angezeigt.
  • Seite 75: Das Logikdiagramm

    ICT-BAUTEILTESTS Abb. 5-5, Ansicht der Testergebnisse - Das Pin-Verbindungs- und Logik-Diagramm Das Logikdiagramm Das Logikdiagramm zeigt den Status jedes Pin´s bei jedem Testschritt im Bauteil- Prüfprogramm. Die Stimuli-Signale an den Bauteileingängen und die resultierenden logischen Pegel an den Ausgängen werden für jeden Schritt im Prüfprogramm angezeigt. Die Pegel werden als HIGH, LOW, TRISTATE (strichlierte Linie auf halber Höhe zwischen HIGH und LOW) oder DON´T CARE (die schraffierten Bereiche) dargestellt.
  • Seite 76 TD8000 Bedienerhandbuch Abbildung 5-6 zeigt die View-Ansicht eines FAIL-Ergebnisses. Abb. 5-6, FAIL-Ergebnis zeigt unerwartete Verbindung zwischen Pin 4 und 5. Abbildung 5-6 zeigt die Testergebnisse eines fehlerhaften integrierten Bausteins mit einem internen Kurzschluß (in diesem Fall als unerwartete Verbindung) zwischen Pin 4 und 5.
  • Seite 77: Loop

    Geben Sie im Pins-Feld die Anzahl der Pin´s des Bausteins (z.B. 16, 20, etc.) ein und drücken Sie <ENTER>. Der TD8000 testet die logischen Funktionen des Bauteils und vergleicht sie mit den Funktionsmustern aus der Datenbank. Dabei werden alle Bauteile mit gleichem Verhalten aufgelistet.
  • Seite 78: Speichern Und Testen Digitaler Ic´s

    Programmierung des TD8000 - beinhaltet eine komplette Beschreibung des Bauteil- programmiervorganges. Wählen Sie Program aus dem Hauptmenü - der TD8000 öffnet das Fenster Bauteilliste. Dieses Fenster enthält vier Sektionen: Die Box Device - eine Liste von Bauteilreferenzen und Bauteiltypen, welche im Testprogramm angegeben wurden.
  • Seite 79: Erstellung Eines Testprogramms

    ICT-BAUTEILTESTS Wird die Option Program gewählt, so lädt der TD8000 das zuletzt verwendete Programm (oder, wenn noch kein Programm erstellt wurde, ein leeres Programm mit dem Namen UNTITLED). File - Erstellung eines Testprogramms Um ein Programm zu erzeugen, wählen Sie die Option File - es erscheint die Liste der verfügbaren Programme im Programmverzeichnis.
  • Seite 80 Geben Sie die Bauteiltype im Feld Type: ein (z.B. 74LS00, 74138, etc.); die Bezeichnung kann bis zu 13 Zeichen lang sein. Drücken Sie <Enter> oder gehen Sie zum nächsten Feld - der TD8000 untersucht Ihren Feldeintrag, ob sich dieser Bauteil in der ICT-Bibliothek befindet. Wurde ein entsprechender Bauteil gefunden, so erscheint eine Bauteilbeschreibung in der ICT- Einstellungsbox.
  • Seite 81: Angabe Der Ict-Einstellungen

    HIGH. Wählen Sie je nach Bauteil Ttl oder Cmos. Die vordefinierten Werte sollten für die überwiegende Mehrzahl der Tests geeignet sein. User - Ändern der logischen Schwellwerte Der TD8000 ermöglicht dem Anwender die logischen Schwellwerte für HIGH und LOW zu spezifizieren. Wählen Sie User um die logischen Pegel von den Standardwerten zu ändern.
  • Seite 82: Ict - Einlernen Des Bauteils

    Achtung: Die garantierte ICT-Testzeit von < 16ms wird nur bei einer Einstellung von Step Rate = 100% erreicht ! Drücken Sie <F7> um das Testprogramm zu speichern - der TD8000 kehrt zum Bauteilparameterschirm zurück. Nachdem die Bauteilparameter gespeichert wurden, muß...
  • Seite 83: Vermeidung Von Problemen Durch Unstabilitäten

    ICT-BAUTEILTESTS Vermeidung von Problemen durch Unstabilitäten Verwenden Sie die mitgelieferten Kabel um das zu testende Board vom TD8000 zu versorgen - Kabel mit geringerem Querschnitt können größeren Spannungsabfall verursachen (besonders bei größeren Strömen) und können unstabile oder unzuverlässige Ergebnisse verursachen.
  • Seite 84 TD8000 Bedienerhandbuch Abbildung 5-7, ICT View-Schirm Das Pin-Verbindungsdiagramm Das Pin-Verbindungsdiagramm zeigt die Signalleitungen und die zugehörigen Pinnummern des Referenzbauteils. Leitungen, die unbeweglich auf einem fixen Potential „stecken“, werden als Stuck pins dargestellt: Stuck pins Pins mit einem zyanfarbenem ∆ - Symbol stecken auf logisch 1 Pins mit einem purpurfarbenem ∇...
  • Seite 85 ICT-BAUTEILTESTS Logikdiagramm Die Referenzdaten erscheinen grün. Die Pegelzustände High, Low, Tristate (strichlierte Linien zwischen Low und High) oder Don´t care (schraffierte Flächen) werden angezeigt. Mittels der Cursortasten auf/ab können die logischen Zustände der restlichen Pins angezeigt werden. In Abbildung 5-8 werden die Pins 9 bis 16 dargestellt: Abbildung 5-8, Durchlaufen der Bauteil-Pins 5-19...
  • Seite 86: Testen Des Bausteins

    5.6 Testen des Bausteins ICT-Test Klemmen Sie den Testclip von Kanal A des TD8000 auf den zu testenden Bauteil. Um den Bauteil zu testen wählen Sie Test aus dem Hauptmenü. Der TD8000 zeigt den zuletzt gezeigten Bauteil-Parameterschirm. Die Bauteilliste besteht aus vier Abschnitten:...
  • Seite 87: View - Anzeige Von Ict-Testergebnissen

    ICT-BAUTEILTESTS View - Anzeige von ICT-Testergebnissen Mittels der Funktion View aus dem Testergebnisschirm werden die Pin-Verbindungen und die logischen Funktionsdiagramme angezeigt. Abbildung 5-9 illustriert die Ergebnisse eines PASS-Tests. Die Pin-Verbindungen und die logischen Funktionen stimmen mit den Diagrammen aus dem Einlernvorgang überein. Abbildung 5-9 PASS-Ergebnis mit Pin-Status und korrekten logischen Funktionen Das Pin-Verbindungsschema Das Pin-Verbindungsschema zeigt die Nummer jedes Pins mit seiner zugeordneten...
  • Seite 88 TD8000 Bedienerhandbuch Missing links - Diese Verbindungen sind auf der Referenzplatine vorhanden, auf der Testplatine jedoch nicht; die Darstellung erfolgt als strichlierte Linie blau, gelb, zyan oder purpur. Unexpected links - Verbindungen, die unerwartet auf der Testplatine vorhanden sind, auf der Referenzplatine allerdings nicht, werden rot dargestellt.
  • Seite 89: Das Logikdiagramm

    Das Logikdiagramm Das Logikdiagramm ist die graphische Darstellung der logischen Pegel and jedem Bauteilpin während der einzelnen Testschritte des Bauteiltestprogramms. Das TD8000 Logikdiagramm zeigt logische Pegel in Form von High, Low, Tristate oder Don´t Care. Der Benutzer kann auf einen Blick die Stimulussignale an den Bauteileingängen und die resultierenden Signale an den Bauteilausgängen bei jedem Schritt im Bauteiltest-...
  • Seite 90: Logikpegel Im Logikdiagramm

    TD8000 Bedienerhandbuch Der TD8000 hat eine fehlende Verbindung zwischen Pin 4 und 5 des Bauteils erkannt. Pins mit korrektem Verhalten werden in Grün dargestellt, fehlerhafte Pins zur leichteren Unterscheidung in Rot. Das Logikdiagramm zeigt die logischen Pegel an jedem Pin (Numerierung an linker Seite) bei jedem Testzeitpunkt (die Schritte werden an der Oberseite angezeigt).
  • Seite 91: Applikationshinweise

    Wenn ein eigenartiger Fehler auf einem IC auftritt, prüfen Sie auch andere IC´s - der Fehler kann auch durch umliegende IC´s verursacht werden. Die Software des TD8000 legt ein Eingangssignal an alle Eingänge des zu testenden Bauteils an und vergleicht die Ergebnisse an den Ausgängen mit der Wahrheitstabelle in der Bibliothek.
  • Seite 92: Isolieren Von Bauteilen In Der Schaltung

    Wenn ein Bauteil nicht initialisiert werden kann, so ist auch das Testergebnis nicht vorhersagbar: Wenn z.B. die RESET-Leitung eines Zählers auf ein fixes Potential gelegt wurde, ist der TD8000 nicht in der Lage den Baustein korrekt zu initialisieren. Einige Mikroprozessoren beinhalten interne freilaufende Oszillatoren, welche nicht beeinflußt werden können.
  • Seite 93: Deaktivieren Von Busbausteinen

    Anwendung von Guard-Spannungen In vielen Fällen ist es nicht möglich, Bausteine zu entfernen oder zu deaktivieren. Der TD8000 stellt daher logische High und Low Guard-Spannungen (+5V und 0V) an der Frontplatte zur Verfügung, damit der Anwender Bauteile in der Umgebung des zu testenden Bausteins deaktivieren kann.
  • Seite 94: Deaktivieren Von Speicherbausteinen

    Spannungen an die Chip-Enable-Leitungen in der Adreßdekodierung angelegt werden (meist werden größere Speicherbereiche mittels einer einzelnen Leitung deaktiviert). Der TD8000 legt Guard-Spannungen an ausgewählte Bauteile während des Tests an um die Ausgänge zu deaktivieren und Bus-Kollisionen zu vermeiden. Bus-Kollisionen entstehen, wenn mehr als ein Bauteil versucht, gleichzeitig Daten auf den Bus zu legen.
  • Seite 95: Ansicht Von Ict-Daten

    Bausteins zusammen mit seinem Timing-Diagramm mit dem Pin-Status während des Tests. Hinweis: Verwenden Sie die mitgelieferten Kabel um das zu testende Board vom TD8000 zu versorgen - Kabel mit geringerem Querschnitt können größeren Spannungsabfall verursachen (besonders bei größeren Strömen) und können unstabile oder unzuverlässige Ergebnisse verursachen.
  • Seite 96: Ändern Der Step Rate

    TD8000 Bedienerhandbuch Halten Sie die Anschlußleitungen so kurz wie möglich - Sie vermeiden damit Unstabilitäten. Auf manchen Baugruppen können schmale Leiterbahnen zur Stromversorgung Stabilitätsprobleme verursachen. Versuchen Sie in diesem Fall die Versorgung möglichst nahe an den zu testenden Bauteil zu legen.
  • Seite 97: Abschnitt 6 - Live Modus

    TD8000 - im darauffolgenden Abschnitt besprechen wir den programmierten Betrieb des TD8000; wir werden Testprogramme schreiben, um komplexe und wiederkehrende Tests automatisch durchzuführen. Die Betriebsart Live erlaubt es dem Benutzer, mit dem TD8000 Bauteilsignaturen direkt mit den Prüfspitzen, oder bei Bauteilen mit vielen Anschlüssen, mit dem eingebauten Scanner zu untersuchen.
  • Seite 98: Td8000 Testmöglichkeiten

    ICs innerhalb oder außerhalb der Schaltung. Die Signatur jedes Pins kann automatisch mit guten Signaturen verglichen und am Bildschirm angezeigt werden. Der TD8000 kann hintereinander jeden Anschluß eines zu testenden ICs abtasten und darauf das durch Einstellungen wie Voltage oder Frequency bestimmte Testsignal einspeisen, und die entstehenden Signaturen mit einem guten Bauteil vergleichen.
  • Seite 99: Bauteiltest Mittels Asa

    LIVE MODUS Bauteiltest mittels ASA In diesem Abschnitt wird gezeigt, wie der TD8000 für die Untersuchung von Bauteilen mit zwei, drei oder vielen Anschlüssen verwendet wird. Eine detaillierte Beschreibung von Testtechniken befindet sich in Abschnitt 4 - Bauteiltests. 6.3 Tests an Bauteilen mit zwei Anschlüssen Anschluß...
  • Seite 100: Die Option Format - Angabe Der Gehäusetype

    Erhellen Sie die Option Format und rollen Sie mit den Rechts-Linkstasten des Cursorblockes durch das Menü. Wählen Sie Probe aus. ASA Testformate Der TD8000 besitzt im wesentlichen drei Testformate: Probes für Bauteile mit zwei Anschlüssen (z.B. Widerstände. Kondensatoren, Spulen und Dioden) für einreihige Gehäuseformen (Single in-line packages) oder SMD-...
  • Seite 101: Die Option Tolerance - Setzen Des Vergleichsschwellwertes

    LIVE MODUS 6.6 Die Option Tolerance - Setzen des Vergleichsschwellwertes Die Option Tolerance erlaubt es dem Anwender, die Empfindlichkeit des Signatur- vergleiches zu ändern. Tolerance ist als Prozentwert spezifiziert. Die Einstellung Tolerance erlaubt einen Prozentwert zwischen 1 und 99%. Niedrige Werte entsprechen einen exakteren Vergleich, höhere Werte erlauben einen größeren Unterschied der verglichenen Signaturen.
  • Seite 102: Auswahl Des Spannungsbereiches (Voltage)

    6.7 Auswahl des Spannungsbereiches (Voltage) Die Testspannung und Testfrequenz kann manuell oder automatisch definiert werden. Manuelle Auswahl Drücken Sie die Taste M (für Mode), bis die Betriebsart Manual eingestellt ist. Der TD8000 besitzt eine Reihe von strombegrenzten Testspannungen: Einstellung Spannung Anwendung...
  • Seite 103: Auswahl Des Frequenzbereiches (Frequency)

    LIVE MODUS 6.8 Auswahl des Frequenzbereiches (Frequency) Der Anwender kann die passende Frequenz mit der Taste F auswählen (Low, Med oder High). Signaturformen Die von einem reinen Widerstand erzeugte Signatur ist eine geneigt gerade Linie, deren Anstieg vom Widerstandswert abhängt. Für einen reinen Widerstand ist die gewählte Frequenz für die angezeigte Signatur unerheblich.
  • Seite 104: Automatische Testeinrichtungen

    Test Ranges und Step Rate verwendet. Auto-Modus Wählen Sie die Betriebsart Auto durch Drücken der Taste M, bis Auto hell erscheint - der TD8000 setzt automatisch einen der möglichen Spannungsbereiche, um eine aussagekräftige Anzeige zu bewirken. Testbereiche - Angabe des Testspannungsbereiches Die Testspannungen, die in den Betriebsarten Auto und Cycle verfügbar sind, werden mit...
  • Seite 105: Der Cycle-Modus

    LIVE MODUS Der Cycle-Modus Wählen Sie den Modus Cycle - der TD8000 schaltet zyklisch durch die angegebenen Testspannungsbereiche. 6.10 Die Option Step Rate In bestimmten Schaltungskonfigurationen können große Kapazitäten zu langen Ladezeiten führen, die größer sind als die Akquisitionszeit der Signatur. Dies kann zu Änderungen der Signaturform währen dieser Zeit führen.
  • Seite 106 TD8000 Bedienerhandbuch Die Optionen Pulser Mode sind in unterer Tabelle aufgelistet: Modus Funktion Wählt eine positive Gleichspannung. Der Pegel kann mit Level eingestellt werden. DC– Wählt eine negative Gleichspannung. Der Pegel kann mit Level eingestellt werden. PULSE 1 + (P1+) Wählt ein Pulssignal mit positiver Polarität (siehe Abb.
  • Seite 107 LIVE MODUS Abb. 6-4a Ausgangssignal Pulser 1 Abb. 6-4b Ausgangssignal Pulser 2 6-11...
  • Seite 108: Tests Von Integrierten Schaltkreisen

    Bauteil als schlecht diagnostiziert wird. Siehe ABSCHNITT 4 - BAUTEILTESTS für die Besprechung von IC-Tests - dieses Kapitel enthält typische IC-Signaturen. 6.12 Der TD8000-Scanner Der Scanner bietet eine Möglichkeit, die Signaturen von allen Anschlüssen eines ICs sehr schnell aufzunehmen.
  • Seite 109: Testen Von Ics

    • selbständig die Pinanzahl) Drücken Sie <Esc>, um die gewählten Einstellungen zu speichern. Wählen Sie Test - der TD8000 startet den Test mit den eingestellten Parametern im Fenster Options. Der Scanner überprüft zuerst die Pinanzahl des Bauteils und, sofern ausgewählt, Kurzschlüsse zwischen Pins und COM, und nimmt anschließend die Signaturen jedes IC-...
  • Seite 110 Die Funktion Test zeigt schrittweise die Signatur jedes Pins des IC, und zwar mit der Rate, die mit Step Rate eingestellt wurde. Ist der Bereich Auto eingestellt, so führt der TD8000 bei jedem Schritt eine automatische Bereichswahl durch, um das aussagekräftigste Ergebnis zu erhalten, und zeigt die resultierende Signatur an.
  • Seite 111: Manuelle Auswahl Der Pins - Manuelle Einstellung Der Anschlußanzahl

    In manchen Situationen ist der automatische Pinalgorythmus nicht fähig, die richtige Anzahl der Anschlüsse von einem Testobjekt herauszufinden (beispielsweise, wenn Pin 1 eines ICs nicht verbunden ist, etc.). Der TD8000 kann keine Verbindung auf Pin 1 erkennen, und das Programm zeigt die Meldung: ABORT - No device found In diesem Fall ist es notwendig, die Pinanzahl manuell einzustellen, bevor mit dem Test begonnen wird.
  • Seite 112 TD8000 Bedienerhandbuch 6-16...
  • Seite 113: Abschnitt 7 - Die Programmierung Des Td8000

    Organisation des Testprogrammspeichers Testprogramme werden in Unterverzeichnissen gespeichert. Ein Standardverzeichnis (mit dem Namen TESTPROG) wird vom System erstellt. Dieses wird vom TD8000 dazu verwendet, Testprogramme zu speichern. Anwender können andere Verzeichnisse erstellen, um die Programme zu unterteilen. Existiert mehr als ein Verzeichnis, so kann nur eines zu einem Zeitpunkt aktiv sein ("Arbeitsverzeichnis").
  • Seite 114: File - Laden Oder Erstellen Neuer Testprogramme

    Die Box Insert Template - diese enthält die Standardeinstellungen für das Einfügen neuer Bauteile in ein Programm. Die Liste der Funktionen Wird die Option Program gewählt, so lädt der TD8000 das zuletzt verwendete Programm (oder, wenn noch kein Programm erstellt wurde, ein leeres Programm mit dem Namen UNTITLED).
  • Seite 115: Name - Angabe Eines Erweiterten Programmdateinamens

    ( bei einer neuen Datei ist die Liste bis auf das *END*-Zeichen leer). 7.3 Name - Angabe eines erweiterten Programmdateinamens Die TD8000-Software erlaubt es, Testprogrammen einen weiteren erklärenden Namen zusätzlich zu dem mit File spezifizierten Namen einzugeben. Wähle Sie Name und geben Sie die Programmbeschreibung (z.B. Hauptplatine, etc.) im Feld Extended File Name ein.
  • Seite 116: Spezifizieren Der Testparameter - Der Bauteilparameterschirm

    Eintrag wird mit <ESC> abgebrochen. 7.5 Spezifizieren der Testparameter - Der Bauteilparameterschirm Der Testparameterschirm des TD8000 zeigt eine logisch strukturierte Eingabemaske, in welcher die Prüfbedingungen für jeden zu testenden Bauteil eingegeben werden. Um ein Testprogramm zusammenzustellen, müssen die Testparameter für jeden Bauteil definiert werden.
  • Seite 117: Definition Der Bauteiltype Und Der Testfunktion

    Geben Sie die Bauteiltype im Feld Type: ein (z.B. 74LS00, Tantalelko, etc.); die Bezeichnung kann bis zu 13 Zeichen lang sein. Drücken Sie <Enter> oder gehen Sie zum nächsten Feld - der TD8000 untersucht Ihren Feldeintrag, ob sich dieser Bauteil in der ICT-Bibliothek befindet. Wurde ein entsprechender Bauteil gefunden, so erscheint eine Bauteilbeschreibung in der ICT-Einstellungsbox.
  • Seite 118: Angabe Der Ict-Einstellungen

    TD8000 Bedienerhandbuch User Instructions - Bereitstellen von Benutzeranweisungen Das Feld Notes erlaubt dem Anwender die Eingabe von erklärenden Hinweisen oder Kommentaren für das Testobjekt. Diese wird vor dem Test oder beim Einlernen einer Referenzsignatur angezeigt. Markieren sie das Feld Notes und geben Sie die Instruktionen und Informationen ein.
  • Seite 119: Step Rate

    Feld ASA Settings definiert. Package - Definition der Bauteilkonfiguration Der TD8000 unterstützt eine breite Palette von Bauteiltypen, von einfachen Bauteilen mit zwei Anschlüssen bis zu IC-Gehäusen mit vielen Pins; markieren Sie das Package - Feld, um die Bauform des zu testenden Bauteil einzugeben - die Auswahl wird durch Drücken der fetten Großbuchstaben getroffen:...
  • Seite 120: Range - Angabe Der Spannungsbereiche

    SIP (Single In-Line) 1 - 128 Probes Hinweis: Für DIP-Gehäuse akzeptiert der TD8000 nur gerade Pinanzahlen. Wählen Sie Pins (drücken Sie die Taste P) und geben Sie die Pinanzahl des Bauteils ein. Ungültige Eingaben werden ignoriert. Range - Angabe der Spannungsbereiche Wählen sie das RANGE-Feld;...
  • Seite 121: Frequency - Einstellen Der Testfrequenz

    Pin weiterzuschalten. Wurden alle Pins abgetastet, so beginnt der Vergleich. Pulser - Einstellung des Pulsgenerators Der im TD8000 eingebaute Pulsgenerator ist für den Test von Bauteilen mit drei Anschlüssen (z.B. SCRs, Triacs, Optokoppler, etc.) oftmals sehr nützlich. Siehe ABSCHNITT 4 - BAUTEILTESTS für die Erörterung von Pulsgeneratoranwendungen.
  • Seite 122: Filter - Mathematische Verarbeitung Von Signaturen

    Situationen Fehlmessungen aufgenommen oder angezeigt werden. Filter - Mathematische Verarbeitung von Signaturen Einige Kombinationen von Bauteiltypen und TD8000-Bereichseinstellungen können gelegentlich zu unerwarteten Effekten und unvorhersehbaren Resultaten führen. So können zum Beispiel einige CMOS-Bausteine störende Schwingungen zeigen, wenn sie mit höheren Spannungen beaufschlagt werden.
  • Seite 123: Edit - Verändern Von Bauteilparametern

    PROGRAMMIERUNG 7.6 Edit - Verändern von Bauteilparametern Um die Parameter eines Bauteils zu verändern, markieren Sie den Bauteil mit den Cursortasten und wählen Sie die Option Edit. Der Bauteilparameter-Schirm wird angezeigt. Verschieben Sie die Markierung zu den Feldern, welche editiert werden sollen, und nehmen Sie die notwendigen Änderungen vor;...
  • Seite 124: Search - Auffinden Von Bauteilen In Der Bauteilliste

    TD8000 Bedienerhandbuch 7.9 Search - Auffinden von Bauteilen in der Bauteilliste In umfangreichen Programmen ist die Bauteilliste auf mehrere Bildschirminhalte verteilt. Auf einem Schirm können bis zu 18 Bauteile gelistet werden. Die Funktion Search erlaubt dem Bediener das rasche Auffinden von Bauteilen durch Eingabe der Bauteilreferenz (auch wenn nicht auf dem Schirm sichtbar).
  • Seite 125 Aufnahme von ASA-Referenzsignaturen Wenn alle Testparameter für den Bauteil definiert wurden, verbinden Sie die Testkabel des TD8000 mit dem einzulernenden Bauteil, markieren Sie den Bauteil in der Bauteilliste und wählen Sie Asa für die ASA-Funktion. Der TD8000 nimmt die Signaturen mit den angegebenen Testparametern auf und speichert diese auf der Festplatte des Steuerrechners.
  • Seite 126: View - Anzeigen Von Asa-Signaturen

    Wählen Sie Ict - die logische Funktion des Bauteils wird mit Hilfe der angezeigten Logikpegel und Testgeschwindigkeit durchgeführt und auf Stabilität überprüft. Verläuft der Test dabei immer korrekt, so wird der Bauteil als stabil angenommen. Der TD8000 zeigt dabei die Meldung: Learnt device stable Schlägt ein Testschritt während der Verifizierung fehl, so zeichnet der TD8000 die Anzahl...
  • Seite 127: View - Anzeigen Von Ict-Daten

    PROGRAMMIERUNG Schlägt ein Logiktest während der Überprüfung fehl, so zeichnet der TD8000 die Anzahl der instabilen Pins auf und gibt folgende Warnmeldung aus: * * * Warning * * * Learnt device unstable Versuchen Sie nochmals, den Bauteil einzulernen, oder verändern Sie die Step Rate - nähere Hinweise in Abschnitt 4.13 Testen digitaler ICs...
  • Seite 128: Goto - Auswahl Einer Anzuzeigenden Signatur

    In manchen Fällen ist es hilfreich, die Signaturen zur genauen Inspektion größer als in der normalen Ansicht View darzustellen. Das TD8000-Steuerprogramm bietet dem Anwender die Möglichkeit, einzelne Signaturen mittels der Funktion Zoom vergrößert zu zeigen. Die zu vergrößernde Signatur muß dazu am Schirm sichtbar sein.
  • Seite 129: Shorts

    PROGRAMMIERUNG Print - Erstellen eines Ausdrucks von Signaturen Die Option Print erlaubt es dem Anwender, einen Ausdruck der gespeicherten Signaturen des gewählten Bauteils zu erzeugen. Wählen Sie Print - das System zeigt das Print - Optionsfeld: Page All Wählen Sie Page, um nur die momentan am Bildschirm dargestellten Signaturen auszudrucken, oder All, um alle Signaturen des Bauteils zu drucken.
  • Seite 130: Das Pin-Verbindungsschema

    TD8000 Bedienerhandbuch Abb. 7-1 ICT View-Schirm Pin-Verbindungsschema Das Pin-Verbindungsschema (links oben) zeigt die Signalleitungen und die zugehörigen Pinnummern des Referenzbauteils. Leitungen, die unbeweglich auf einem fixen Potential „stecken“, werden als Stuck pins dargestellt: Stuck pins Pins mit einem zyanfarbenem ∆ - Symbol stecken auf logisch 1 Pins mit einem purpurfarbenem ∇...
  • Seite 131: Das Logikdiagramm

    PROGRAMMIERUNG Logikdiagramm Das Logikdiagramm zeigt den Zustand jedes Pins bei jedem Testschritt innerhalb des gewählten Bauteiltestprogramms (über dem Diagramm wird die Nummer des jeweiligen Testschritts angezeigt). Achtung: Zwischen den Schritten können Ereignisse auftreten (z.B. eine Serie von Taktpulsen beim Testen eines Zählers). Diese Zustände werden im Diagramm nicht dargestellt.
  • Seite 132 TD8000 Bedienerhandbuch 7-20...
  • Seite 133: Abschnitt 8 - Test

    Um einen Test auf einer Schaltung laufen zu lassen, ist es nötig, das Programm zu laden, welches mit der Option Program erstellt wurde. 8.1 File - Laden eines Programms Wählen Sie File - das TD8000-Programm zeigt die Testprogrammdateien im momentanen Programmverzeichnis. Markieren Sie das gewünschte Programm und drücken Sie <ENTER> - die Bauteilliste wird angezeigt.
  • Seite 134: Testen Eines Bauteils

    Test angezeigt; drücken Sie <ENTER> oder das Fußpedal, um mit dem Test fortzufahren - der TD8000 führt dann den Test an dem Bauteil durch und zeigt das Ergebnis über das Status-Feld und den angeschlossenen Drucker, falls so spezifiziert (siehe Printmode).
  • Seite 135: Analyse

    TEST Analyse Nachdem der TD8000 einen Bauteil getestet hat, wechselt die Statusbox den Namen auf Analysis. Schlägt der Test fehl, so versucht der TD8000, die Effekte von Signatur- abweichungen verschiedener Hersteller herauszufiltern. Der gleiche Bauteil von verschiedenen Herstellern könnte unterschiedliche analoge Signaturen aufweisen (z.B.
  • Seite 136: Ict-Tests

    TD8000 Bedienerhandbuch ICT-Tests Klemmen Sie den Testclip von Kanal A des TD8000 auf den zu testenden Bauteil und wählen Sie Ict durch Drücken der Taste <I> oder <Enter> oder durch einen Druck auf das Fußpedal. Wurden mittels Notes Kommentare oder Anweisungen eingegeben, so werden diese angezeigt, bevor der Test startet;...
  • Seite 137: View - Untersuchen Der Aufgezeichneten Signaturen

    TEST 8.6 View - Untersuchen der aufgezeichneten Signaturen Untersuchen der aufgenommenen ASA-Signaturen Wählen Sie View, um die aufgenommenen Signaturen zu inspizieren. Akquirierte Signaturen werden als rote Kurvenformen zusammen mit den ursprünglich gespeicherten Referenzsignaturen (grüne Kurven) für den Vergleich dargestellt. Wenn der Shorts-Test einen Fehler gezeigt hat, so wird automatisch das Fenster mit den Kurzschlußdaten zu Beginn der Funktion View gezeigt.
  • Seite 138: Zoom - Vergrößerte Anzeige Von Signaturen

    Zoom - Vergrößerte Anzeige von Signaturen In manchen Fällen ist es hilfreich, die Signaturen zur genauen Inspektion größer als in der normalen Ansicht View darzustellen. Das TD8000-Steuerprogramm bietet dem Anwender die Möglichkeit, einzelne Signaturen mittels der Zoom - Funktion vergrößert zu zeigen.
  • Seite 139: Print - Erstellen Eines Ausdrucks Von Signaturen

    TEST Print - Erstellen eines Ausdrucks von Signaturen Die Option Print erlaubt es dem Anwender, einen Ausdruck der gespeicherten Signaturen des gewählten Bauteils zu erzeugen. Wählen Sie Print - das System zeigt das Optionsfeld Print : Page All Wählen Sie Page, um nur die momentan am Bildschirm dargestellten Signaturen auszudrucken, oder All, um alle Signaturen des Bauteils zu drucken.
  • Seite 140 TD8000 Bedienerhandbuch Abb. 8-1 Test View Schirm Das Logikdiagramm zeigt den Zustand jedes Pins bei jedem Testschritt im Testprogramm des Bauteils. Die Referenzdaten werden grün dargestellt. Die logischen Zustände Low, High, Tristate und Don´t care sind ersichtlich. Unterschiede zwischen den Referenzdaten und den aufgezeichneten Daten werden rot dargestellt.
  • Seite 141 TEST Das Pinverbindungsschema zeigt den Anschluß jedes Pins mit der zugehörigen Signalbezeichnung, steckende Pins und Verbindungen zwischen Pins, die durch den ICT- Test gefunden wurden. Verbundene Pins (Links) Es werden drei Verbindungstypen durch den ICT-Test erkannt und angezeigt: Confirmed links - Diese Verbindungen sind sowohl auf der Referenzplatine, als auch auf der Testplatine vorhanden;...
  • Seite 142: Report - Ausdruck Von Testergebnissen

    TD8000 Bedienerhandbuch Confirmed stuck pins - Diese Pins liegen sowohl auf der Referenzplatine als auch auf der Testplatine auf einem fixen Logikpegel und werden zyan oder purpur dargestellt. Missing stuck pins - Diese Anschlüsse sind auf der Referenzplatine fix auf Low oder High verharrt, können auf der Testplatine aber in ihrem logischen Zustand verändert werden.
  • Seite 143: Beispielreport

    Not Tested ************************************************************** 8.9 Printmode Das TD8000-Steuerprogramm besitzt die Möglichkeit des On-Line-Ausdrucks der Ergebnisse eines Bauteiltests. Die Option Printmode erlaubt dem Anwender die Auswahl der Bedingungen, unter denen gedruckt werden soll. Die Auswahl von Printmode wechselt zyklisch durch die alternativen...
  • Seite 144: Clear

    TD8000 Bedienerhandbuch Beispiel eines On-Line-Ausdrucks Type Shorts Worst Pin Pins Pass Pins Fail SN75189 Pass 10 [ 1%] PASS SN75189 Pass 8 [ 6%} PASS SN75189 Pass 1 [ 1%] PASS MC1488 Pass 9 [ 2%] PASS MC1488 Pass 1 [ 0%]...
  • Seite 145: Print - Ausdruck Der Datenaufzeichnung

    Export kopiert den Inhalt der Datenaufzeichnung auf eine Datei, um diese z.B. in einer Datenbank weiterzuverarbeiten, etc. Die Datei erhält den Namen <Dateiname.LOG> im Verzeichnis \TD8000\DATALOG\, wobei Dateiname die Bezeichnung des Testprogramms ist. Der momentane Inhalt der Datei wird überschrieben.
  • Seite 146 TD8000 Bedienerhandbuch 8-14...
  • Seite 147: Abschnitt 9 - Dateiverwaltung

    DATEIVERWALTUNG ABSCHNITT 9 - DATEIVERWALTUNG Dateiverwaltung Die Wahl des TD8000 File Management-Menüs erlaubt dem Anwender, Testprogramme zu kopieren und löschen, auf Diskette zu sichern, von Diskette wiederherstellen, sowie Verzeichnisse für die Speicherung von Testprogrammen zu erstellen. Das Menü File Management sieht wie folgt aus:...
  • Seite 148: Delete Test Program - Löschen Von Testprogrammen

    TD8000 Bedienerhandbuch Beispiel: Die Wahl einer Datei mit dem Namen MAINBRD1 und Eingabe von MAINBRD2 an der Cursorposition erzeugt eine neue Datei mit dem Namen MAINBRD2, welche mit MAINBRD1 identisch ist. Wenn die Zieldatei bereits existiert, so überschreibt die Funktion Copy die Zieldatei (der Inhalt der alten Datei geht dabei verloren).
  • Seite 149: Backup Test Program - Sichern Von Programmen Und Daten

    Dem Anwender wird dringend empfohlen, die Testprogramme regelmäßig auf einer Diskette zu sichern. Archivieren auf einer Diskette Das Dateimanagement des TD8000 bietet dem Anwender die Möglichkeit, Testprogramme auf Diskette zu sichern und zu archivieren. Stellen Sie sicher, daß eine formatierte Diskette in das Laufwerk eingelegt wurde, bevor ein Programm zum Sichern gewählt wurde.
  • Seite 150: Backup Destination - Zielangabe Der Archivierung

    Sichern. 9.4 Backup destination - Zielangabe der Archivierung Nach der Installation ist das TD8000-Steuerprogramm so konfiguriert, daß das Laufwerk A: als Sicherungslaufwerk dient. Dies kann durch bacKup destination z.B. auf B: geändert werden. Die Wahl dieser Option zeigt das momentane Sicherungsmedium und fordert zur Eingabe auf.
  • Seite 151: Program Directory - Wechseln / Erzeugen Von Verzeichnissen

    Programmverzeichnisse (z.B. Verzeichnisse innerhalb des es TD8000\PROGRAMS) können mit der Funktion Erase directory gelöscht werden. Die TD8000-Software erlaubt nur das Löschen von leeren Verzeichnissen (d.h. Verzeichnisse, die keine Dateien beinhalten). Alle Dateien müssen zuerst aus dem Verzeichnis gelöscht werden, bevor das Verzeichnis entfernt werden kann. Das System gibt eine Fehlermeldung, falls der Anwender versucht, ein Verzeichnis mit Dateien zu löschen.
  • Seite 152 TD8000 Bedienerhandbuch...
  • Seite 153: Abschnitt 10 - Wartung Und Fehlersuche

    öffnen. Beachten Sie, daß hohe Spannungen bis zu zwei Minuten nach dem Abstecken vom Netz aufgrund geladener Kondensatoren anliegen können. 10.1 Netzspannungseinstellung Sollte es nötig sein, die Netzspannungseinstellung des TD8000 zu ändern, kontaktieren Sie bitte Ihren lokalen Polar-Vertreter. 10.2 Sicherungen Netzsicherungen Wenn ein Netzsicherungsausfall vermutet wird, schließen Sie das Netzkabel ab.
  • Seite 154: Eingangsschutzsicherungen

    TD8000 Bedienerhandbuch Eingangsschutzsicherungen Kanal A und B sind durch flinke Sicherungen geschützt. Wenn die Prüfspitzen mit einem spannungsführenden Teil oder mit einem geladenen Kondensator verbunden werden, so fallen die Eingangssicherungen aus, um eine Beschädigung am Gerät zu vermeiden. Um die Meßkanalsicherungen zu wechseln: Schließen Sie das Gerät vom Netz ab.
  • Seite 155: Troubleshooting

    Kanal A und B sind mit flinken Sicherungen geschützt. Wenn die Meßspitzen an ein stromführendes Board oder an einen geladenen Kondensator angelegt werden, so fallen die Eingangssicherungen aus, um eine Beschädigung am TD8000 zu vermeiden. Wenn ein Kanal nicht verbunden ist, so ist dessen Signatur eine horizontale Linie. Wenn die Schutzsicherung ausgefallen ist, so zeigt dieser Kanal eine vertikale Linie (Kurzschluß).
  • Seite 156 TD8000 Bedienerhandbuch 10-4...
  • Seite 157: B Der Signatur-Vergleichsalgorithmus

    ANHANG B - Der Signatur-Vergleichsalgorithmus ANHANG B Der Signatur-Vergleichsalgorithmus Für den Vergleich werden die Signaturen an n Punkten abgetastet. Beim TD8000 ist die Anzahl der Abtastpunkte n auf 100 fixiert. Die Abweichung D ist definiert als: ∑ − Vb xk wobei Va 1 , Va 2 ,..Va n die Amplituden von Kanal A repräsentieren, d.h.
  • Seite 158 TD8000 Bedienerhandbuch...
  • Seite 159: C Der Datei-Übersetzer

    ANHANG C - Der Datei-Übersetzer ANHANG C Der Datei-Übersetzer Polar T6000 zu T4XXX Datei-Übersetzer (TRAN.EXE) V1.0 Dieses kleine Kommandozeilenprogramm übersetzt existierende T6000-Dateien in das vom T4XXX verwendete Dateiformat. Das Übersetzungsprogramm ÄNDERT NICHT die originalen Dateien des T6000. Wir empfehlen jedoch sehr, jederzeit eine Sicherheitskopie aller Testdateien zu besitzen bzw.
  • Seite 160 Befehlszeile lautet daher: TD8TRAN \T4XXX\PROGRAMS\TESTPROG \TD8000\PROGRAMS\TESTPROG\ NCL_DISK Bitte beachten Sie: Wenn Sie ein T6000-Testprogramm in das Format des TD8000 umwandeln, so müssen Sie dieses Programm zuerst mit TRAN in das T4XXX-Format umwandeln, bevor Sie mit TD8TRAN eine weitere Übersetzung vornehmen können !
  • Seite 161 Wir empfehlen jedoch sehr, jederzeit eine Sicherheitskopie aller Testdateien zu besitzen bzw. anzufertigen. Der Aufruf des Übersetzers aus der DOS-Kommandozeile muß folgendes Format besitzen: TD4TRAN <Quelldateipfad> <Zieldateipfad> <Dateiname> Als Beispiel: Das TD8000-Programm „NCL_DISK“ soll auf das T4XXX-Format kopiert werden; die Befehlszeile lautet daher: TD4TRAN \TD8000\PROGRAMS\TESTPROG \T4XXX\PROGRAMS\TESTPROG\ NCL_DISK...
  • Seite 162 TD8000 Bedienerhandbuch...
  • Seite 163 ANHANG D - TD8000 Pin-Numerierungsformate Dieser Abschnitt behandelt Details über die Scanner-Pinnumerierung des TD8000. Das Format der Pinnumerierung des TD8000-Scanners hängt davon ab, ob der TD8000 im Live- oder Program-Modus betrieben wird, von der Wahl der Gehäusetype, bzw. von der Pinanzahl des zu testenden Bauteils.
  • Seite 164 TD8000 Bedienerhandbuch TD8000 LIVE-MODUS Pinnumerierung des TD8000 (DIP und SIP-Format) Die Abbildung gegenüber zeigt den TD8000-Scanner in der Betriebsart Live für 40-polige DIP- und SIP-Bauteile.
  • Seite 165 ANHANG D - TD8000 SIP/DIP Numerierungsformat...
  • Seite 166 TD8000 Bedienerhandbuch TD8000 LIVE-MODUS Pinnumerierung des TD8000 (DIP und SIP-Format) Die Abbildung gegenüber zeigt den TD8000-Scanner in der Betriebsart Live für 64-polige DIP- und SIP-Bauteile.
  • Seite 167 ANHANG D - TD8000 SIP/DIP Numerierungsformat...
  • Seite 168 TD8000 Bedienerhandbuch TD8000 PROGRAM / TEST-MODUS Pinnumerierung des TD8000 (DIP und SIP-Format) Die Abbildung gegenüber zeigt den TD8000-Scanner in der Betriebsart Program/Test für 40-polige DIP- und SIP-Bauteile.
  • Seite 169 ANHANG D - TD8000 SIP/DIP Numerierungsformat...
  • Seite 170 TD8000 Bedienerhandbuch TD8000 PROGRAM / TEST-MODUS Pinnumerierung des TD8000 (DIP und SIP-Format) Die Abbildung gegenüber zeigt den TD8000-Scanner in der Betriebsart Program/Test für 64-polige DIP- und SIP-Bauteile.
  • Seite 171 ANHANG D - TD8000 SIP/DIP Numerierungsformat...
  • Seite 172 TD8000 Bedienerhandbuch TD8000 PROGRAM / TEST-MODUS Pinnumerierung des TD8000 (DIP und SIP-Format) Die Abbildung gegenüber zeigt den TD8000-Scanner in der Betriebsart Program/Test für 128-polige DIP- und SIP-Bauteile. D-10...
  • Seite 173 ANHANG D - TD8000 SIP/DIP Numerierungsformat D-11...
  • Seite 174 TD8000 Bedienerhandbuch D-12...
  • Seite 175: Etd8000 Programmierbeispiel

    Auf einem neu installierten System befindet sich UNTITLED und NCL_DISK in dieser Stufe. 4. Geben Sie einen Dateinamen ein, z.B. EXAMPLE1 5. Drücken Sie <Enter>. Angenommen, eine Datei mit diesem Namen existiert noch nicht, so erstellt der TD8000 eine Datei mit dem Namen EXAMPLE1. EXAMPLE1 erscheint nun oben im Schirm Program.
  • Seite 176: Einfügen Eines Bauteils

    Die oberste Zeile des Schirms sollte nun den Dateinamen mit dem Zusatztext enthalten: Polar TD8000 EXAMPLE1 NCL Disk Controller Der TD8000 ist nun für die Programmierung bereit. Einfügen eines Bauteils 7. Um einen Bauteil einzufügen, drücken Sie den Hotkey InseRt.
  • Seite 177 (Für dieses Beispiel werden wir die Referenzsignatur nun aufnehmen. Normalerweise werden zuerst alle Bauteile definiert, erst im Anschluß werden die Referenzsignaturen aufgenommen). Überprüfen Sie die serielle Verbindung zwischen dem TD8000 und dem PC, und stecken Sie das Fußpedal an der Geräterückseite an.
  • Seite 178: Einlernen Von Signaturen

    Der Notes-Text wird automatisch am Schirm angezeigt. Folgen Sie der Anweisung und drücken Sie anschließend das Fußpedal oder eine beliebige Taste. Der PC lädt nun die Signaturen vom TD8000 und zeigt die Meldung "Saving" am Schirm; das Fenster Device Data ändert sich, um anzuzeigen, daß die Signaturen gespeichert worden sind.
  • Seite 179: Spezifizieren Eines In-Circuit Tests

    Markieren Sie den 74HC04 in der Bauteilliste und wählen Sie Ict, um den Baustein einzulernen. Wie beim ASA-Beispiel können mit View die Daten angezeigt werden - der TD8000 zeigt die Pinverbindungen und das Timingdiagramm des 7404 - verwenden Sie die Cursortasten, um die nicht sichtbaren Pins anzuzeigen.
  • Seite 180 TD8000 Bedienerhandbuch Instabile Signaturen Manche Signaturen zeigen einen Bereich, der "ausgefranst" erscheint; diese Eigenschaft kann eigen für diesen Bauteil sein. Für einen wiederholbaren Test muß die Signatur jedoch stabil sein. Wird ein CMOS-IC mittels ASA getestet, so empfiehlt es sich, die Pins Vcc und GND miteinander zu verbinden.
  • Seite 181: Testen Einer Platine

    Die oberste Zeile des Schirms sollte nun zeigen: Polar TD8000 NCL_DISK Demo Disk Controller Der TD8000 ist nun bereit für den Test. Drücken Sie Notebook, um das zugehörige Anweisungsfile anzuzeigen. Testen eines Bauteils 4. Überprüfen Sie, ob das Fußpedal angeschlossen ist.
  • Seite 182: Hinweise

    Warning Communication Aborted any key to continue dann überprüfen Sie das Schnittstellenkabel zwischen PC und TD8000. Überprüfen Sie weiters die COM-Einstellungen (s. ABSCHNITT 5 - UTILITIES). Schlägt der Test fehl, und auch der Tests Shorts zeigt einen oder mehrere Pins: Sehen Sie die Signaturen mit View an;...
  • Seite 183: Smd-Prüfspitzen

    Pin #1 der SMD-Prüfspitze ist mittels eines weißen Punkts auf der Spitze bzw. durch die farbige Flachbandkabellitze gekennzeichnet. Beachten Sie, daß die vom TD8000 angezeigte Pinnummer die Nummer des Pins der Prüfspitze ist. Ist Pin #1 der Prüfspitze nicht mit Pin #1 des ICs verbunden, so muß der Anwender den passenden Offset zu der angezeigten Zahl addieren, um die richtige Gehäusepinnummer des ICs zu bestimmen.
  • Seite 184 TD8000 Bedienerhandbuch Austausch eines defekten Pins 1. Entfernen Sie vorsichtig den Kunststoffkamm durch Abziehen vom Prüfspitzenkopf. Der Kamm besitzt zwei gefederte Nadeln, die normalerweise am Kamm befestigt sind. Sollte eine der Nadeln am Prüfspitzenkopf stecken bleiben, so stellt dies kein Problem dar.
  • Seite 185 ANHANG F - SMD-PRÜFSPITZEN...
  • Seite 186 TD8000 Bedienerhandbuch...

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