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ICT-BAUTEILTESTS
Deaktivieren von Busbausteinen
In einer typischen prozessorbasierenden Schaltung können die Bus-Ausgangsleitungen
des Prozessors nur begrenzte Ströme liefern. Dies bedeutet, daß der Prozessor direkt nur
eine kleine Anzahl von Bauteilen treiben kann, da ansonsten die Ausgänge überlastet
werden.
Entwickler isolieren daher normalerweise den Prozessor vom Rest der Schaltung durch
Puffer. Puffer nehmen Daten vom Prozessor auf und können die erforderlichen höheren
Strome zum Treiben der Buskapazitäten und der Bauteile liefern.
Hinweis: Deaktivieren von Pufferbausteinen erweist sich oft als effektives Mittel um
Bausteine vom Bus zu isolieren.
Anwendung von Guard-Spannungen
In vielen Fällen ist es nicht möglich, Bausteine zu entfernen oder zu deaktivieren.
Der TD8000 stellt daher logische High und Low Guard-Spannungen (+5V und 0V) an der
Frontplatte zur Verfügung, damit der Anwender Bauteile in der Umgebung des zu
testenden Bausteins deaktivieren kann. Der Baustein kann dann isoliert getestet werden,
ohne ihn aus der Schaltung zu entfernen.
Wenn es nicht z.B. nicht praktikabel ist, den Prozessor zu entfernen oder die Buspuffer zu
deaktivieren, ist es vielleicht möglich, Busbausteine zu deaktivieren indem eine Guard-
Spannung an RESET-, HOLD- oder DMS Request- (oder äquivalente) Leitungen der CPU
gelegt wird.
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Viele Bauteilarten verwenden Aktiv-Low CHIP ENABLE oder OUTPUT ENABLE -
Leitungen - ein Logisch-High an diesen Leitungen versetzt die Ausgänge in einen
hochohmigen Zustand was faktisch einem Leerlauf entspricht. Wenn viele Bauteile an
einem Bus liegen, ist es eventuell notwendig, Guard-Spannungen an mehrere Bauteile
anzulegen um sicherzustellen, daß der zu testende Bauteil effektiv vom Bus isoliert ist.
Wenn ein Busbaustein getestet werden soll, kann eine vollständige Isolation dadurch
erreicht werden, indem ein Guard-Spannung an die Enable-Eingänge aller Busbausteine
angelegt wird (und so die Ausgänge in einen hochohmigen Zustand versetzt).
Wenn Guard-Spannungen an undokumentierte Boards angelegt werden, sind eventuell
einige Versuche nötig, bis stabile Ergebnisse erreicht werden.
Beachten Sie, daß die Guard-Spannungen während der gesamten Testzeit auf Low und
High bleiben.
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Fehlerbehebung
