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TD8000 Bedienerhandbuch
Die Einstellungen Format, Voltage und Frequency werden gespeichert, d.h. die
angezeigten Einstellungen sind die des vorherigen Meßdurchganges.
Bestimmung der Testbedingungen
Um die Testbedingungen zu bestimmen, erhellen Sie die gewünschte Option (Format,
Tolerance, etc.) mittels der Cursortasten auf und ab; die Cursortasten rechts und links
ändern die Einstellung.
6.5 Die Option Format - Angabe der Gehäusetype
Für den Test von Bauteilen mit zwei Anschlüssen ist es notwendig, die Einstellung Probe
zu wählen. Erhellen Sie die Option Format und rollen Sie mit den Rechts-Linkstasten des
Cursorblockes durch das Menü. Wählen Sie Probe aus.
ASA Testformate
Der TD8000 besitzt im wesentlichen drei Testformate:
Probes
Sip
Dip
In den Betriebsarten Sip und Dip können mit dem eingebauten Scanner rasch die
Signaturen der Anschlüsse zweier ICs miteinander verglichen werden. Die Pinanzahl wird
automatisch erkannt, die Testergebnisse und Signaturen jedes Pins werden am Bildschirm
des Steuerrechners in der Reihenfolge des Fehlers oder der Pinnummer dargestellt.
Die Einstellung Sip oder Dip ist außerdem sehr hilfreich, wenn andere Gehäuseformen
getestet werden sollen.
6-4
für Bauteile mit zwei Anschlüssen (z.B. Widerstände. Kondensatoren,
Spulen und Dioden)
für einreihige Gehäuseformen (Single in-line packages) oder SMD-
Prüfspitzen
Für zweireihige Gehäuse (Dual in-line packages)
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Fehlerbehebung
