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ICT-BAUTEILTESTS
Loop
Mittels der Loop-Funktion läuft der ICT kontinuierlich ab. Der Loop-Test ist hilfreich um
intermittierende logische Fehler oder Verbindungsfehler zu finden. Drücken Sie <ESC> um
die Loop-Funktion zu beenden.
Search - Testen unbekannter Bausteine
Die Search-Funktion ermöglicht dem Anwender unbekannte Bauteile zu identifizieren.
Setzen Sie den Clip auf den Baustein auf und wählen Sie Search.
Geben Sie im Pins-Feld die Anzahl der Pin´s des Bausteins (z.B. 16, 20, etc.) ein und
drücken Sie <ENTER>. Der TD8000 testet die logischen Funktionen des Bauteils und
vergleicht sie mit den Funktionsmustern aus der Datenbank. Dabei werden alle Bauteile
mit gleichem Verhalten aufgelistet.
TEST VON DIGITAL-IC´s IN DER SCHALTUNG
Achtung: Es ist wichtig, daß das Instrument mit keinem Anschluß an Punkten mit
Spannungen außerhalb des Bereichs von 0 bis +5V in Berührung kommt.
Andernfalls ist eine Beschädigung der ICT Treiber-/Sensorschaltung äußerst
wahrscheinlich !
Sollen digitale ICs auf ihre Funktion hin getestet werden, so muß sichergestellt werden,
daß:
• die zu testenden Bauteile initialisiert werden können, d.h. in einen bekannten Zustand
gebracht werden können
• andere Bauteile auf das Testergebnis keinen Einfluß nehmen können
• andere Signale (z.B. Taktsignale) das Testergebnis nicht beeinflussen können
Achtung: Wenn mittel ICT ein Bauteil getestet wird, sollte die Kabellänge minimiert bzw.
eventuell parallelgeschaltete Clips (z.B. mittels ACC137) entfernt werden.
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Fehlerbehebung
