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Step Rate
Die Funktion Step Rate steuert die Verzögerung vor jedem Testschritt währen des ICT-
Tests.
Die Standardeinstellung ist 100% (d.h. größtmögliche Geschwindigkeit); diese Einstellung
sollte für den Großteil aller Tests die geeignete Einstellung sein. Die Geschwindigkeit kann
für Bauteile mit größerer Laufzeitverzögerung vermindert werden. Markieren Sie das Feld
Step Rate und geben Sie einen Wert zwischen 1 und 100% ein. Die Optimale Einstellung
kann experimentell ermittelt werden.
Achtung: Die garantierte ICT-Testzeit von < 16ms wird nur bei einer Einstellung von
Step Rate = 100% erreicht !
Angabe der ASA-Einstellungen
Die Testbedingungen für das Testobjekt (Spannungsbereiche, Frequenz, etc.) werden im
Feld ASA Settings definiert.
Package - Definition der Bauteilkonfiguration
Der TD8000 unterstützt eine breite Palette von Bauteiltypen, von einfachen Bauteilen mit
zwei Anschlüssen bis zu IC-Gehäusen mit vielen Pins; markieren Sie das Package - Feld,
um die Bauform des zu testenden Bauteil einzugeben - die Auswahl wird durch Drücken
der fetten Großbuchstaben getroffen:
Die momentan gewählte Einstellung ist markiert.
Wählen Sie die neue Bauteilkonfiguration durch Drücken der zugeordneten Taste:
D für Dual-In-Line Gehäuse
S für Single-In-Line Gehäuse oder SMD Probes
B für Bauteile, welche mit den Meßspitzen getestet werden
Für andere Bauformen (z. B. Steckerleisten) wählen Sie SIP oder DIP.
Siehe Anhang D für weitere Details über die SIP- und DIP-Formate.
Pins [14]
Dip
Sip
proBe
PROGRAMMIERUNG
7-7
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Fehlerbehebung
