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ICT-BAUTEILTESTS
Hinweis: Meist bewirkt das Entfernen der CPU aus einer Prozessorplatine das Entfernen
vieler Taktsignale.
Ein übliche Anwendung von Guard-Spannungen wird in Abbildung 5-13 gezeigt.
Die Schaltung in Abbildung 5-13 ist typisch für viele Mikroprozessor-Taktschaltungen.
Das Anlegen von LOW Guard-Spannungen am Quarz deaktiviert den Oszillatorschaltkreis
und damit auch den Mikroprozessor.
Abbildung 5-13, Anwendung von Guard-Spannungen zum Deaktivieren einer typischen Mikroprozessor-
Taktschaltung.
Ansicht von ICT-Daten
Nachdem ICT-Daten aufgenommen wurden, können sie mit dem Befehl View betrachtet
werden. Alternativ können über die Tasten <ALT> + <V> die aufgenommen Daten mit dem
„Freiluft-Modell" des Bausteins verglichen werden. Dieser Modus ist hilfreich beim
Debugging von ICT Tests.
Der ICT View-Schirm zeigt ein Pin-Verbindungsdiagramm des gewählten integrierten
Bausteins zusammen mit seinem Timing-Diagramm mit dem Pin-Status während des
Tests.
Hinweis: Verwenden Sie die mitgelieferten Kabel um das zu testende Board vom TD8000
zu versorgen - Kabel mit geringerem Querschnitt können größeren Spannungsabfall
verursachen (besonders bei größeren Strömen) und können unstabile oder unzuverlässige
Ergebnisse verursachen.
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Fehlerbehebung
