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T4000 Bedienerhandbuch
TESTS VON INTEGRIERTEN SCHALTKREISEN
Alle integrierten Schaltkreise können durch paarweises Abtasten der Anschlüsse getestet
werden. Die meisten ICs zeigen eine Signatur ähnlich von Zenerdioden.
Bitte beachten Sie, daß ICs durch unterschiedliche Herstelltechnologie deutlich
abweichende Signaturen zeigen können. Diese Tatsache muß berücksichtigt werden,
bevor ein Bauteil als schlecht diagnostiziert wird.
Siehe ABSCHNITT 4 - BAUTEILTESTS für die Besprechung von IC-Tests - dieses Kapitel
enthält typische IC-Signaturen.
6.12 Der T4000-Scanner
Der Scanner bietet eine Möglichkeit, die Signaturen von allen Anschlüssen eines ICs sehr
schnell aufzunehmen.
Der Scanner ist automatisch ausgewählt, wenn die Option Sip oder Dip vom Menü
Format gewählt wurde. Diese Auswahl verbindet die Vielfachsteckverbinder mit den
Kanälen A und B, die Signalrückführung erfolgt nach wie vor über COM.
Die Prüfspitzen an Kanal A und B sind mit den Scannereingängen parallelgeschaltet, um
Verbindungsunterbrechungen der Clips überprüfen zu können.
Ist die Option Probe im Menü Format gewählt, so sind die Vielfachstecker isoliert; nur die
Prüfspitzen sind mit den Meßeingängen verbunden.
Dies erzeugt genauere Signaturen, wenn Tests an Schaltungen mit geringen Kapazitäten
durchgeführt werden sollen, und die Streukapazität des Scanners einen Einfluß haben
könnte.
Der Anschluß von IC-Testclips
Das Standardzubehör umfaßt 16 und 40-polige IC-Testclips, um die Kanäle A und B des
Scanners mit den Testobjekten zu verbinden.
Verbinden Sie die Testclips mit den verpolungsgeschützten Steckern A und B. Die
Vielfachstecker müssen in Zusammenhang mit den Signalrückführleitungen COM
verwendet werden.
Die COM-Strippe muß auf jedem Testobjekt mit einem gemeinsamen Punkt,
normalerweise 0V, verbunden werden. Es kann auch nützlich sein, für die Signaturanalyse
den Pin Vcc als gemeinsamen Punkt zu verwenden.
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