Speicherbetrieb - Hameg HM1507-3 Bedienungsanleitung

Typ: Normale Diode
Pole: Kathode-Anode
Anschlüsse: ICT-Masse)
N-P-N 7btsistor
Pole: B-E
Anschlüsse: IC%Massel
P-N-P Transistor
Pole: B-E
Anschlüsse: (CT-Masse)
Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über
Bauteile mit Unterbrechung oder Kurzschluß, die im Service-
Betrieb erfahrungsgemäß am häufigsten benötigt wird. Die
übliche Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Bauelementen
in Bezug auf statische Aufladung oder Reibungselektrizität
wird dringend angeraten. Brumm kann auf dem Bildschirm
Testbilder Dioden einzsln
i
Hochspannung-Diode Z-Diode 6.6V
Kathode-Anode Kathode-Anode
B-C
- - -
f - -
B-C
Testbilder Transistoren ~Inzsln
In dar Schaltung
sichtbar werden, wenn der Basis- oder Gate-Anschluß eines
einzelnen Transistors offen ist, also gerade nicht getestet
wird (Handempfindlichkeit).
Tests direkt in der Schaltung sind in vielen Fällen möglich,
aber nicht so eindeutig. Durch Parallelschaltung reeller und/
oder komplexer Größen - besonders wenn diese bei einer
Frequenz von 50Hz relativ niederohmig sind - ergeben sich
meistens große Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat
man oft mit Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service),
dann hilft auch hier ein Vergleich mit einer funktionsfähigen
Schaltung. Dies geht sogar besonders schnell, weil die Ver-
gleichsschaltung gar nicht unter Strom gesetzt werden muß
(und darf!). Mit den Testkabeln sind einfach die identischen
Meßpunktpaare nacheinander abzutasten und die Schirmbil-
der zu vergleichen. Unter Umständen enthält die Testschal-
E-C
tung selbst schon die Vergleichsschaltung, z.B. bei Stereo-
Kanälen, Gegentaktbetrieb, symmetrischen Brückenschal-
tungen. In Zweifelsfällen kann ein Bauteilanschluß einseitig
abgelötet werden. Genau dieser Anschluß sollte dann mit
dem nicht an der Massebuchse angeschlossenen Meßkabel
verbunden werden, weil sich damit die Brummeinstreuung
verringert. Die Prüfbuchse mit Massezeichen liegt an Oszil-
loskop-Masse und ist deshalb brumm-unempfindlich. Die
Testbilder (Seite 38.) zeigen einige praktische Beispiele für
E-C
die Anwendung des Komponenten-Testers.

Speicherbetrieb

Einmalig auftretende Ereignisse sind leicht erfaßbar. Nieder-
frequente Signale können problemlos als vollständiger Kurven-
zug dargestellt werden. Höherfrequente Signale mit niedri-
ger W iederholfrequenz rufen keinen Abfall der Darstellungs-
helligkeit hervor. Erfaßte Signale können relativ einfach do-
kumentiert bzw. weiterverarbeitet werden.
auch
Die schlechtere Y- und X-Auflösung und die niedrigere Signal-
erfassungshäufigkeit. Außerdem ist die maximal darstellba-
re Signalfrequenz abhängig von der Zeitbasis. Bei zu niedri-
ger Abtastrate können sogenannte "Alias"-Signaldarstel-
lungen (aliasing) erfolgen, die ein nicht in dieser Form existie-
rendes Signal zeigen. Der Analog-Betrieb ist bezüglich der
Originaltreue der Signaldarstellung unübertroffen. Mit der
Kombination von Analog- und Digital-Oszilloskop bietet
HAMEG dem Anwender die Möglichkeit, abhängig von der
jeweiligen Meßaufgabe, die jeweils geeignetere Betriebsart
zu wählen. Das Oszilloskop verfügt über zwei 8-Bit AID-
Wandler, deren maximale Abtastrate jeweils 1 OOMS/s beträgt.
Außer bei Einzelereigniserfassung im DUAL-Betrieb mit ma-
ximal lOOMS/s, beträgt die maximale Abtastrate in allen an-
deren Digital-Betriebsarten 200MS/s, wenn der kleinste Zeit-
Ablenkkoeffizient eingestellt wurde. Bei der Signalerfassung
besteht prinzipiell kein Unterschied zwischen der Erfassung
repetierender (sich ständig wiederholender) Signale und dem
Aufzeichnen einmaliger Ereignisse. Die Signaldarstellung er-
folgt immer mit einer linearen Punktverbindung (Dot Jein)
der Abtastpunkte. Alle im Digitalspeicher-Betrieb erfaßten und
gespeicherten Signaldaten können über die RS232 Schnitt-
stelle zur Dokumentation abgerufen werden. Diesbezügliche
Informationen sind dem Abschnitt "RS232-Interface" zu ent-
nehmen.