Inhaltsverzeichnis
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7 Anhang
7.1
Technische Daten
7.1.1
Leitfähigkeitsmessung
Messbereich 1
Messbereich 2
Messbereich 3
Maximaler Fehler
Linearität
Rauschen
Messbereich 1
Messbereich 2
Messbereich 3
Drift (elektronisch)
Temperaturabhängigkeit
Bereichsreserve
Messrate
7.1.2
Leitfähigkeitsdetektor
Aufbau
Messprinzip
Zellvolumen
Zellkonstante
Maximaler Gegendruck für
Messzelle
Thermostatisierung
Arbeitstemperatur
Max. Temperaturabweichung ± 2.5°C
Aufheizzeit
Temperaturstabilität
761 SD Compact IC / Gebrauchsanweisung 8.761.1041
Soweit nicht anders angegeben, sind die publizierten
Daten typische Werte für den 761 SD Compact IC bei
einer Umgebungstemperatur von 25°C.
0...1000 µS/cm (Auflösungsschritt: 0.56 nS/cm)
0...250 µS/cm (Auflösungsschritt: 0.14 nS/cm)
0...50 µS/cm (Auflösungsschritt: 0.028 nS/cm)
± 1 % vom Full-Scale-Wert und
± 1 % vom Messwert (k = 16.7/cm)
Abweichungen < ±0.5 % des Full-Scale-Wertes
typ. 10 nS/cm
typ. 2.5 nS/cm
typ. 0.5 nS/cm
typ. < 10 ppm/h vom Full-Scale-Wert
typ. < 40 ppm/°C vom Full-Scale-Wert
> 33 % (k = 16.7/cm)
10 Messungen/s fix
Thermostatisierter Leitfähigkeitsdetektor mit
2 ringförmigen Stahlelektroden
Wechselstrommessung mit 1 kHz Frequenz und
ca. 1.7 V Amplitude (peak to peak).
1.5 µL
ca. 17 /cm (der genaue Wert ist auf dem Detektor
aufgedruckt)
5.0 MPa (50 bar)
Zuschaltbare dynamische Regelung auf einstell-
bare Arbeitstemperatur
Einstellbar in Schritten von 5°C von 25...45°C
≥ 30 min
≤ 0.01°C bei konstanter Umgebungstemperatur
7.1 Technische Daten
107
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