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7 Aufbau und Verdrahtung für zwei Sensoren (1oo2) mit redundanten F-DI (2oo2) und
Auswertung im Anwenderprogramm
In der SRS (Safety Requirement Specification) müssen für diesen Zeitraum
geeignete Ersatzmaßnahmen definiert sein, die die Einhaltung des geforderten SIL
gewährleisten. Beachten Sie auch, dass hier nicht zwischen Kanal- und
Baugruppenfehler unterschieden wird. Bei einem Baugruppenfehler werden
möglicherweise mehrere Sicherheitsfunktionen verzögert was eine zusätzliche
Risikobetrachtung und evtl. weitere Maßnahmen erfordert.
Abbildung 7-6 zeigt eine Beispiellogik für eine 1oo2- Auswertung im CFC-Editor,
mit redundanten F-DI welche Kanalfehler verzögernd berücksichtigt. Beachten Sie,
dass in diesem Beispiel ein „0" Signal an einem Eingang einen kritischen
Prozesszustand signalisiert und zur Abschaltung führt. (1 = Gutzustand,
0 = Abschaltung).
Abbildung 7-6 1oo2 Auswertung in der CPU mit redundanten F-DI – CFC-Logik – Mit
Kanalfehlerauswertung (verzögertes Auslösen bei Kanalfehler)
Die Beispiel-Konfiguration in Abbildung 7-6 funktioniert wie folgt:
Wenn beide F_CH_DI einen normalen Wert melden und kein Kanalfehler
vorliegt ist der Ausgang der Auswertelogik 1 (d.h. kein Abschaltbefehl). Der
Ausgang der Auswertelogik ist hier der Ausgang OUT des F_ DI_VOTE
Bausteins.
Meldet einer der F_CH_DI einen kritischen Prozesszustand und keinen
Kanalfehler ist der Ausgang der Auswertelogik 0 (d.h. Abschaltbefehl),
Meldet eine der F-DI für einen oder beide Sensoren einen kritischen
Prozesszustand oder einen Fehler ist der Ausgang der Auswertelogik 1 (d.h.
kein Abschaltbefehl), da der F_CH_DI den Wert der F-DI ausgibt, die ein „1"
Signal liefert (2oo2). Am Ausgang DISCF bzw. DISCF_R wird ein
Diskrepanzfehler ausgegeben und über den Event Baustein gemeldet.
Melden beide redundanten F-DI von einem Sensor einen kritischen
Prozesszustand oder Fehler ist der Ausgang der Auswertelogik „0" (d.h.
Abschaltbefehl).
Der Ausgang der Auswertelogik (Ausgang OUT des Bausteins F_DI_VOTE)
wird mit der entsprechenden Abschaltlogik verbunden.
Verdrahtungs- und Auswertearchitekturen für fehlersichere digitale
Eingabe- (F-DI) und Ausgabebaugruppen (F-DO) der ET 200M
Beitrags-ID: 37236961,
V2.0,
07/2018
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