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5 Aufbau und Verdrahtung für zwei Sensoren (1oo2) mit redundanten F-DI (2oo2) und
Auswertung in den F-DI
Um in Gefahrensituationen den Prozess in den sicheren Zustand überführen zu
können kann die Verzögerung über den Eingang IN1 des Bausteins RelDelay
freigegeben bzw. abgebrochen werden.
In der SRS (Safety Requirement Specification) müssen für diesen Zeitraum
geeignete Ersatzmaßnahmen definiert sein, die die Einhaltung des geforderten SIL
gewährleisten. Beachten Sie auch, dass hier nicht zwischen Kanal- und
Baugruppenfehler unterschieden wird. Bei einem Baugruppenfehler werden
möglicherweise mehrere Sicherheitsfunktionen verzögert was eine zusätzliche
Risikobetrachtung und evtl. weitere Maßnahmen erfordert.
Abbildung 5-7 1oo2 mit redundanten F-DI – CFC Logik – Mit Kanalfehlerauswertung (verzögertes
Auslösen bei Kanalfehler)
Die Beispiellogik in Abbildung 5-7 funktioniert wie folgt:
Wenn die Eingangssignale beider F_DI einen normalen Wert melden (d.h. 1)
und kein Kanalfehler vorliegt, ist der Ausgang der Auswertelogik 1 (d.h. kein
Abschaltbefehl). Der Ausgang der Auswertelogik ist hier der Ausgang OUT des
Bausteins F_DI_VOTE.
Wenn das Eingangssignal einer Baugruppe einen kritischen Prozesszustand
meldet (d.h. 0) und kein Kanalfehler vorliegt, ist der Ausgang der
Auswertelogik 1 (d.h. kein Abschaltbefehl), da der Wert der Baugruppe
ausgegeben wird, die ein „1" Signal liefert. Gleichzeitig wird am Ausgang
DISCF bzw. DISCF_R ein Diskrepanzfehler ausgegeben.
Meldet das Eingangssignal einer Baugruppe einen Kanalfehler ist der Ausgang
der Auswertelogik 1 (d.h. kein Abschaltbefehl), da der Wert der Baugruppe
ausgegeben wird, die ein „1" Signal liefert. Gleichzeitig wird am Ausgang
DISCF bzw. DISCF_R ein Diskrepanzfehler ausgegeben und über den Event
Baustein gemeldet.
Melden die Eingangssignale beider Baugruppen einen kritischen
Prozesszustand und keinen Kanalfehler ist der Ausgang der Auswertelogik „0"
(d.h. Abschaltbefehl).
Melden die Eingangssignale beider Baugruppen einen Kanalfehler wird aus
der steigenden Flanke von QBAD ein Impuls mit der Länge der
Verdrahtungs- und Auswertearchitekturen für fehlersichere digitale
Eingabe- (F-DI) und Ausgabebaugruppen (F-DO) der ET 200M
Beitrags-ID: 37236961,
V2.0,
07/2018
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