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6 Aufbau und Verdrahtung für zwei Sensoren (1oo2) mit Auswertung im Anwenderprogramm
Abbildung 6-9 1oo2 Auswertung in der CPU CFC-Logik – Ohne Kanalfehlerauswertung
Die Beispiellogik in Abbildung 6-9 funktioniert wie folgt:
Wenn beide Eingangssignale einen normalen Prozesszustand (d.h. 1) melden,
ist der Ausgang der Auswertelogik 1 (d.h. kein Abschaltbefehl).Der Ausgang
der Auswertelogik ist hier der Ausgang OUT des F_DI_VOTE Bausteins.
Wenn ein oder beide Eingangssignale einen kritischen Prozesszustand melden
(d.h. 0), ist der Ausgang der Auswertelogik 0 (d.h. Auslösebefehl).
Wird an einem der Eingänge oder beiden Eingängen ein Kanalfehler erkannt,
wird vom Eingangstreiber am Ausgang Q der Ersatzwert „0" ausgegeben. Der
Ausgang der Auswertelogik (Ausgang OUT des Bausteins F_DI_VOTE) wird 0
(d.h. Auslösebefehl).
Logik mit Auswertung des Kanalfehlers (verzögertes Auslösen bei Kanalfehler)
Wenn die Spezifikation der Sicherheitsfunktion es zulässt, kann eine Auswertung
des Kanalfehlers dazu verwendet werden den Prozess z. B. für einen begrenzten
Zeitraum weiter zu führen, um in diesem Zeitraum Wartungs- oder
Reparaturarbeiten auszuführen.
Abbildung 6-10 zeigt eine Logik zum Lesen der Eingangssignale im CFC Editor,
die Kanalfehler verzögernd berücksichtigt. Beachten Sie, dass in diesem Beispiel
ein „0" Signal am Eingang zur Abschaltung führt. (1 = Gutzustand,
0 = Abschaltung).
Bei einem Kanalfehler wird die Abschaltung, wenn die Funktion freigegeben ist, für
die am Eingang PT des Bausteins F_QBAD_DEL eingestellte Zeit (im Beispiel
4 Stunden) verzögert.
Um in Gefahrensituationen den Prozess in den sicheren Zustand überführen zu
können kann die Verzögerung über den Eingang IN1 des Bausteins RelDelay
freigegeben bzw. abgebrochen werden.
In der SRS (Safety Requirement Specification) müssen für diesen Zeitraum
geeignete Ersatzmaßnahmen definiert sein, die die Einhaltung des geforderten SIL
gewährleisten. Beachten Sie auch, dass hier nicht zwischen Kanal- und
Baugruppenfehler unterschieden wird. Bei einem Baugruppenfehler werden
möglicherweise mehrere Sicherheitsfunktionen verzögert was eine zusätzliche
Risikobetrachtung und evtl. weitere Maßnahmen erfordert.
Verdrahtungs- und Auswertearchitekturen für fehlersichere digitale
Eingabe- (F-DI) und Ausgabebaugruppen (F-DO) der ET 200M
Beitrags-ID: 37236961,
V2.0,
07/2018
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