Tests Direkt In Der Schaltung; Abb. 11.1: Komponententester Bei Kurzschluss - Hameg HMO72 Series Benutzerhandbuch

Komponententester

Abb. 11.1: Komponententester bei Kurzschluss

eine waagerechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist
ein Maß für den Widerstandswert. Damit lassen sich ohm-
sche Widerstände zwischen Ω und kΩ testen.
Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Tra-
fowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen
Strom und Spannung. Das ergibt ellipsenförmige Bilder.
Lage und Öffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend
für den Scheinwiderstandswert bei einer Fre q uenz von
50 Hz (bzw. 200 Hz). Kondensatoren werden im Bereich µF
bis mF angezeigt.
❙ Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet hohe
Impedanz (kleine Kapazität oder große Induk ti vität).
❙ Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige
Impedanz (große Kapazität oder kleine Induk tivität).
❙ Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen
Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blind widerstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen
Kennlinienknicke beim Übergang vom leitenden in den
nichtleitenden Zustand. Soweit das spannungsmäßig
möglich ist, werden Vorwärts- und Rückwärts-Charakteris-
tik dargestellt (z.B. bei einer Z-Diode unter ca. 9 V). Es
handelt sich immer um eine Zweipol-Prüfung; deshalb
kann z.B. die Verstärkung eines Transistors nicht getestet
werden, wohl aber die einzelnen Übergänge B-C, B-E, C-E.
Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die
einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft
werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und
Sperrspannung > ca. 9 V ist nicht möglich. Das ist im
Allgemeinen kein Nachteil, da im Fehlerfall in der Schal-
tung sowieso grobe Abweichungen auftreten, die ein-
deutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit
sicher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs
und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man
kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschluss einer
Diode oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die
Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komple m en-
t ären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuseanschluss f olge
B-C-E eines unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.
Zu beachten ist hier der Hinweis, dass die Anschlussum-
50
polung eines Halbleiters (Vertauschen von COMP.
TESTER-Buchse mit Masse-Buchse) eine 0 Drehung des
Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt des Bild-
schirms bewirkt. Wichtiger noch ist die einfache Gut-/
Schlecht-Aussage über Bauteile mit Unterbrechung oder
Kurzschluss, die im Service-Betrieb erfahrungsgemäß am
häufigsten benötigt wird.
Bei einzelnen MOS-Bauelementen muss in Bezug auf statische
Aufladung oder Reibungselektrizität entsprechend sorgsam ge-
arbeitet werden.

11 .2 Tests direkt in der Schaltung

Sie sind in vielen Fällen möglich, aber nicht so eindeutig.
Durch Parallelschaltung reeller und/oder komplexer Grö-
ßen – besonders wenn diese bei einer Frequenz von 50 Hz/
200 Hz relativ niederohmig sind – ergeben sich meistens
große Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat man
oft mit Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service),
dann hilft auch hier ein Vergleich mit einer funktionsfähi-
gen Schaltung. Dies geht sogar besonders schnell, weil
die Vergleichsschaltung gar nicht unter Strom gesetzt wer-
den muss (und darf!). Mit den Testkabeln sind einfach die
identischen Messpunkt paare nacheinander abzutasten und
die Schirmbilder zu vergleichen. Unter Umständen ent-
hält die Testschaltung selbst schon die Vergleichsschal-
tung, z.B. bei Stereo-Kanälen, Gegen taktbetrieb, symmetri-
schen Brücken schal tungen. In Zweifelsfällen kann ein Bau-
teilanschluss einseitig abgelötet werden. Genau dieser An-
schluss sollte dann mit der COMP. TESTER-Prüfbuchse
ohne Massezeichen verbunden werden, weil sich damit
die Brummeinstreuung verringert. Die COMP. TESTER-
Prüfbuchse mit Massezeichen liegt an Oszilloskop-Masse
und ist deshalb brummunempfindlich.