Tests Direkt In Der Schaltung; Abb. 11.1: Komponententester Bei Kurzschluss - Hameg HMO Series Handbuch

K o m p o n e n t e n t e s t e r
– Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet hohe
Impedanz (kleine Kapazität oder große Induk ti vität).
– Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige
Impedanz (große Kapazität oder kleine Induk tivität).
– Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen
Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blind widerstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen Kenn-
linienknicke beim Übergang vom leitenden in den nichtleitenden
Zustand. Soweit das spannungsmäßig möglich ist, werden Vor-
wärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt (z.B. bei einer
Z-Diode unter ca. 9 V). Es handelt sich immer um eine Zweipol-
Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung eines Transistors
nicht getestet werden, wohl aber die einzelnen Übergänge B-C,
B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die
einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft
werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und
Sperrspannung > ca. 9 V ist nicht möglich. Das ist im Allgemei-
nen kein Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso
grobe Abweichungen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das
fehlerhafte Bauelement geben. Recht genaue Ergebnisse erhält
man beim Vergleich mit sicher funktionsfähigen Bauelementen
des gleichen Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halb-
leiter. Man kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschluss
einer Diode oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die
Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komple men tären
n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuseanschluss folge B-C-E eines
unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.
Zu beachten ist hier der Hinweis, dass die Anschlussumpolung
eines Halbleiters (Vertauschen von COMP. TESTER-Buchse
mit Masse-Buchse) eine 0 Drehung des Testbilds um 180°
um den Rastermittelpunkt des Bildschirms bewirkt. Wichtiger
noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über Bauteile
mit Unterbrechung oder Kurzschluss, die im Service-Betrieb
erfahrungsgemäß am häufigsten benötigt wird.
Bei einzelnen MOS-Bauelementen muss in Bezug auf
statische Aufladung oder Reibungselektrizität ent-
sprechend sorgsam gearbeitet werden.

11.2 Tests direkt in der Schaltung

Sie sind in vielen Fällen möglich, aber nicht so eindeutig.
Durch Parallelschaltung reeller und/oder komplexer Grö-
ßen – besonders wenn diese bei einer Frequenz von 50 Hz/

Abb. 11.1: Komponententester bei Kurzschluss

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Änderungen vorbehalten
200 Hz relativ niederohmig sind – ergeben sich meistens gro-
ße Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat man oft mit
Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service), dann hilft auch
hier ein Vergleich mit einer funktionsfähigen Schaltung. Dies
geht sogar besonders schnell, weil die Vergleichsschaltung
gar nicht unter Strom gesetzt werden muss (und darf!). Mit den
Testkabeln sind einfach die identischen Messpunkt paare nach-
einander abzutasten und die Schirmbilder zu vergleichen. Unter
Umständen enthält die Testschaltung selbst schon die Ver-
gleichsschaltung, z.B. bei Stereo-Kanälen, Gegen taktbetrieb,
symmetrischen Brücken schal tungen. In Zweifelsfällen kann
ein Bauteilanschluss einseitig abgelötet werden. Genau dieser
Anschluss sollte dann mit der COMP. TESTER-Prüfbuchse
ohne Massezeichen verbunden werden, weil sich damit die
Brummeinstreuung verringert. Die COMP. TESTER-Prüfbuchse
mit Massezeichen liegt an Oszilloskop-Masse und ist deshalb
brummunempfindlich.