National Instruments cRIO-9053 Benutzerhandbuch Seite 88

fx
fk
Dauer der Messung
(T)
Teiler (N)
fs
In der folgenden Tabelle sehen Sie, wie diese Variablen bei jeder Vorgehensweise zum Tragen
kommen.
• Ein Zähler—Bei der Messung mit einem Zähler wird die Source-Frequenz von einer
bekannten Zeitbasis (fk) bereitgestellt. Die Dauer der Messung ist die Dauer einer Periode
der zu messenden Frequenz bzw. 1/fx.
• Messung hoher Frequenzen mit zwei Zählern—Bei diesem Verfahren stellt der zweite
Zähler eine bekannte Messungsdauer bereit. Die Gate-Frequenz entspricht 1/
Messungsdauer.
• Messung großer Bereiche mit zwei Zählern—Dieses Verfahren entspricht der Messung
mit einen Zähler, jedoch mit ganzzahligem Teiler für das Signal. Auch hier wird die
Source-Frequenz durch eine interne Zeitbasis (fk) bereitgestellt. Das Herunterteilen sorgt
jedoch dafür, dass die Dauer der Messung der Periodendauer des heruntergeteilten
Signals entspricht (N/f x, wobei N der Teiler ist).
• Mit Sample-Takt—Bei der Frequenzmessung mit Sample-Takt wird eine bekannte
Zeitbasis für die Source-Frequenz (fk) gezählt. Die Dauer der Messung ist die
Periodendauer des Sample-Takts fs.
Variable Mit Sample-Takt
fk Bekannte Zeitbasis
Dauer der
Messung
fx ×
Maximaler
Frequenzfehler
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die Frequenz, die gemessen werden soll, wenn kein Fehler vorliegt
die bekannte Frequenz des Source- oder Gate-Signals
Zeit, die zum Messen eines einzelnen Samples benötigt wird
Teiler für die gemessene Frequenz; nur bei der Messung großer
Bereiche mit Hilfe zweier Zähler benötigt
Sample-Takt-Rate; nur bei getakteten Frequenzmessungen verwendet.
Tabelle 18. Frequenzmessungsverfahren
Ein Zähler
Bekannte
Zeitbasis
1
fs
fx
fx ×
fx
fk × − 1
fs
Hohe Frequenz
Periode des Gate−Signals
1
fx
Periode des Gate-
Signals
fx
fk − fx
Zwei Zähler
Großer Bereich
1
Bekannte
Zeitbasis
fx ×
fk
N
fx
fx
N × fk − fx